熱物性評価装置,熱物性評価用測定方法

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (9)：小谷悦司 , 小谷昌崇 , 櫻井智 , 今村文典 , 小谷悦司 , 小谷昌崇 , 櫻井智 , 本庄武男 , 今村文典
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2008089738
Publication number (International publication number)：2009075063
Patent number：5086863
Application date： Mar. 31, 2008
Publication date： Apr. 09, 2009
Claim (excerpt)：

【請求項1】被測定物の測定部位に加熱光を照射し,該測定部位に反射させた検出光を受光してその受光強度を検出することにより,前記加熱光の照射による前記測定部位の温度変化G(t)を表わす測定値を得る熱物性評価装置であって, 所定周期で断続するパルス光からなる基幹光を前記加熱光と前記検出光とに分岐させる基幹光分岐手段と, 前記加熱光及び前記検出光それぞれを前記測定部位まで導く導光手段と, 前記加熱光を前記測定部位に至るまでに第1の周波数で強度変調する加熱光変調手段と, 前記検出光を前記測定部位に至るまでに前記第1の周波数とは異なる第2の周波数で強度変調する検出光変調手段と, 前記加熱光と前記検出光との間で前記測定部位におけるパルス光到達の時間差Δtpを生じさせると共にその時間差Δtpを調節可能なパルス光到達時間差設定手段と, 前記測定部位に反射させた前記検出光を受光してその受光強度を検出する光強度検出手段と, 前記光強度検出手段による前記受光強度の検出信号における前記第1の周波数と前記第2の周波数との和若しくは差の周波数成分Pfを検出する検波手段と,を具備し、前記検波手段により検出される前記周波数成分Pfが以下の式により表されることを特徴とする熱物性評価装置。 Pf=C2・G(Δtp) 但し、C2は所定の定数

IPC (1)：

G01N 25/18 ( 200 6.01)

FI (1)：

G01N 25/18 H

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

試料の物理的性質の測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-038980 Applicant：科学技術振興事業団
サーモリフレクタンス法による熱拡散率測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-260938 Applicant：工業技術院長
特開平4-009641

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Cited by examiner (5)

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