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J-GLOBAL ID：201303028179970473

電磁波を用いる測定装置及び測定方法

Inventor：
小泉 隆之

About 小泉 隆之

, 
窪田 央一

About 窪田 央一


Applicant, Patent owner：
キヤノン株式会社

About キヤノン株式会社


Agent (1)： 加藤 一男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2012109394
Publication number (International publication number)：2013238401
Application date： May. 11, 2012
Publication date： Nov. 28, 2013
Summary：
【課題】検体内部界面における反射波を精度良く取得する等のために、検体表面と窓部材との界面での屈折率差を調整した状態で窓部材と接触した検体からの電磁波を検出することできる測定装置及び方法を提供する。【解決手段】測定装置は、検体111と接触するための窓部材110と、窓部材と接触した検体に電磁波を照射する照射手段101と、窓部材と接触した検体からの電磁波を検出する検出手段102と、窓部材の誘電率を変化させる誘電率調整手段108と、を有する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
検体と接触するための窓部材と、前記窓部材と接触した検体に電磁波を照射する照射手段と、前記窓部材と接触した検体からの電磁波を検出する検出手段と、前記窓部材の誘電率を変化させるための誘電率調整手段と、を有することを特徴とする測定装置。
IPC (3)：
G01N 21/01 ,  G01N 21/35 ,  G01N 22/00
FI (3)：
G01N21/01 B ,  G01N21/35 Z ,  G01N22/00 S
F-Term (22)：
2G059AA03 ,  2G059AA05 ,  2G059BB08 ,  2G059BB12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059EE17 ,  2G059FF01 ,  2G059FF08 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ21 ,  2G059KK01 ,  2G059LL03 ,  2G059MM01 ,  2G059NN01 ,  2G059NN06
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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