画像処理システム、処理方法及びプログラム

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (6)：大塚康徳 , 高柳司郎 , 大塚康弘 , 木村秀二 , 下山治 , 永川行光
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2012015935
Publication number (International publication number)：2013153884
Application date： Jan. 27, 2012
Publication date： Aug. 15, 2013
Summary：

【課題】被検眼が疾病であるか否かの判定基準となる指標とともに、診断対象となる被検眼の形状特徴量を表示できるようにした技術を提供する。【解決手段】画像処理システムは、被検眼の断層画像から網膜の湾曲の程度を表す情報を取得する解析手段と、前記解析の結果に基づいて前記被検眼のカテゴリを取得する取得手段とを具備する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

被検眼の断層画像から網膜の湾曲の程度を表す情報を取得する解析手段と、前記解析の結果に基づいて前記被検眼のカテゴリを取得する取得手段とを具備することを特徴とする画像処理システム。

IPC (3)：

A61B 3/10 , A61B 3/14 , A61B 3/12

FI (4)：

A61B3/10 R , A61B3/14 A , A61B3/12 E , A61B3/14 M

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (6)

光干渉断層装置、方法、およびシステム
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2011-501911 Applicant：ドヘニーアイインスティテュート
画像処理装置、画像処理方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2008-269186 Applicant：キヤノン株式会社
画像撮影装置及び画像解析プログラム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2006-243485 Applicant：国立大学法人岐阜大学, タック株式会社

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Cited by examiner (6)

眼底観察装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2010-223125 Applicant：株式会社ニデック
光干渉断層装置、方法、およびシステム
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2011-501911 Applicant：ドヘニーアイインスティテュート
画像処理装置、画像処理方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2008-269186 Applicant：キヤノン株式会社

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Article cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

https://web.archive.org/web/20091227225217/http://www.gikosha.co.jp/SMIS/SMIS_CON/VHN_01.html, 20091227
https://web.archive.org/web/20100102011843/http://www.gikosha.co.jp/SMIS/SMIS_CON/VHN_04.html, 20100102
http://www.gikosha.co.jp/SMIS/SMIS_CON/SMIS_CHRT011.html

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Cited by examiner (5)

https://web.archive.org/web/20091227225217/http://www.gikosha.co.jp/SMIS/SMIS_CON/VHN_01.html, 20091227
https://web.archive.org/web/20100102011843/http://www.gikosha.co.jp/SMIS/SMIS_CON/VHN_04.html, 20100102
http://www.gikosha.co.jp/SMIS/SMIS_CON/SMIS_CHRT011.html

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