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J-GLOBAL ID：201303033545235823

超音波粒径測定器、および超音波粒径測定方法

Inventor：
福谷 義樹

About 福谷 義樹

, 
久保 康弘

About 久保 康弘


Applicant, Patent owner：
大塚電子株式会社

About 大塚電子株式会社


Agent (1)： 特許業務法人深見特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011255315
Publication number (International publication number)：2013108902
Application date： Nov. 22, 2011
Publication date： Jun. 06, 2013
Summary：
【課題】本発明は、測定対象粒子の粒径を定量的に、安定して測定することができる超音波粒径測定器、および超音波粒径測定方法を提供する。【解決手段】本発明は、トランスデューサ1と、パルサーレシーバ2と、解析部(コンピュータ3)とを備える超音波粒径測定器10である。トランスデューサ1は、測定対象粒子40に超音波を照射する。パルサーレシーバ2は、超音波を発生させる電気的なスパイク波をトランスデューサ1に印加し、測定対象粒子40で反射した超音波をトランスデューサ1で電気信号へ変換した後、変換した電気信号を増幅する。解析部は、測定対象粒子40の粒径を算出する。解析部は、測定対象粒子40の粒径を測定する前に、測定対象粒子40のサンプルセル4内での沈降速度を測定し、測定した沈降速度に基づいて、測定対象粒子40の粒径を測定する測定条件をパルサーレシーバ2に設定する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
サンプルセル内の液体中に分散している測定対象粒子に超音波を照射するトランスデューサと、 超音波を発生させる電気的なスパイク波を前記トランスデューサに印加し、前記トランスデューサから照射した前記超音波のうち前記測定対象粒子で反射した前記超音波を前記トランスデューサで電気信号へ変換した後、変換した電気信号を増幅するパルサーレシーバと、 前記パルサーレシーバで増幅した前記電気信号に基づいて、前記測定対象粒子の粒径を算出する解析部と を備え、 前記解析部は、前記測定対象粒子の粒径を測定する前に、前記サンプルセル内の所定の測定範囲における前記測定対象粒子の沈降速度を測定し、測定した前記沈降速度に基づいて、前記測定対象粒子の粒径を測定する測定条件を前記パルサーレシーバに設定する超音波粒径測定器。
IPC (2)：
G01N 15/02 ,  G01N 29/02
FI (2)：
G01N15/02 D ,  G01N29/02
F-Term (10)：
2G047AA01 ,  2G047AA02 ,  2G047BA03 ,  2G047BC03 ,  2G047BC18 ,  2G047CA01 ,  2G047GF06 ,  2G047GG23 ,  2G047GG27 ,  2G047GG36
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (7)
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Cited by examiner (7)
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