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J-GLOBAL ID：201303039283443525

撮像装置

Inventor：
廣瀬 太

About 廣瀬 太


Applicant, Patent owner：
キヤノン株式会社

About キヤノン株式会社


Agent (8)： 岡部 讓 ,  臼井 伸一 ,  越智 隆夫 ,  高橋 誠一郎 ,  吉澤 弘司 ,  齋藤 正巳 ,  木村 克彦 ,  田中 尚文
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2012273761
Publication number (International publication number)：2013198721
Application date： Dec. 14, 2012
Publication date： Oct. 03, 2013
Summary：
【課題】 被検眼の収差の測定レンジを抑えた撮像装置を提供する。【解決手段】 撮像装置において、被検査物に対して第一の測定光を合焦する第一の合焦手段を介して該第一の測定光を照射した該被検査物からの第一の戻り光に基づいて、該被検査物の第一の画像を取得する第一の画像取得手段と、収差補正手段を用いて、前記被検査物に対して第二の測定光を合焦する第二の合焦手段を介して該第二の測定光を照射した該被検査物からの第二の戻り光に基づいて、該被検査物における前記第一の画像の一部に対応する領域の第二の画像を取得する第二の画像取得手段と、前記第一の合焦手段の合焦状態に基づいて前記第二の合焦手段の合焦状態を調整する合焦調整手段と、を配することとする。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
被検査物に対して第一の測定光を合焦する第一の合焦手段を介して該第一の測定光を照射した該被検査物からの第一の戻り光に基づいて、該被検査物の第一の画像を取得する第一の画像取得手段と、 収差補正手段を用いて、前記被検査物に対して第二の測定光を合焦する第二の合焦手段を介して該第二の測定光を照射した該被検査物からの第二の戻り光に基づいて、該被検査物における前記第一の画像の一部に対応する領域の第二の画像を取得する第二の画像取得手段と、 前記第一の合焦手段の合焦状態に基づいて前記第二の合焦手段の合焦状態を調整する合焦調整手段と、 を有することを特徴とする撮像装置。
IPC (2)：
A61B 3/12 ,  A61B 3/10
FI (3)：
A61B3/12 E ,  A61B3/10 N ,  A61B3/10 R
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
  • 眼底撮影装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2008-145160   Applicant：株式会社ニデック
  • 眼底撮影装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2010-123604   Applicant：株式会社ニデック
  • 眼科装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-209132   Applicant：株式会社トプコン
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Cited by examiner (4)
  • 眼底撮影装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2008-145160   Applicant：株式会社ニデック
  • 眼底撮影装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2010-123604   Applicant：株式会社ニデック
  • 眼科装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-209132   Applicant：株式会社トプコン
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