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J-GLOBAL ID：201303040516188502

FBGセンサの計測方法及び計測装置

Inventor： 中島 富男 ,  佐藤 英一 ,  津田 浩 ,  佐藤 明良
Applicant, Patent owner： 株式会社IHI検査計測 ,  独立行政法人 宇宙航空研究開発機構 ,  独立行政法人産業技術総合研究所 ,  株式会社IHIエアロスペース
Agent (1)： 特許業務法人山田特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011198052
Publication number (International publication number)：2013061162
Application date： Sep. 12, 2011
Publication date： Apr. 04, 2013
Summary：

【課題】広帯域光源またはレーザ光でひずみ信号及びAE信号を計測し得るFBGセンサの計測方法及び計測装置を提供する。【解決手段】FBGセンサ11に光を入力する広帯域光源13及び光ファイバアンプ14と、FBGセンサ11からの光を切替可能にする第一の光スイッチ16と、一方の光を光ファイバアンプ14に戻すアンプ側の光カプラ17と、第一の光スイッチ16の光とアンプ側の光カプラ17の光とを選択的に入射させる第二の光スイッチ18と、第二の光スイッチ18からの光を分割する計測側の光カプラ20と、計測側の光カプラ20で分割した一方の光を計測するブラッグ波長計測手段21と、計測側の光カプラ20で分割した他方の光を計測するAE計測用の光電変換器22とを備え、広帯域光源13と、光ファイバアンプ14のファイバリングレーザを選択可能にする。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

広帯域光源と光ファイバアンプとを選択してFBGセンサに光を入力し、 前記広帯域光源を選択した際には、FBGセンサからの光を、第一の光スイッチ及び第二の光スイッチを介して計測側の光カプラにより分割し、更に計測側の光カプラで分割した一方の光をブラッグ波長計測手段によりひずみ信号として計測し、 前記光ファイバアンプを選択した際には、FBGセンサからの光を、第一の光スイッチ及びアンプ側の光カプラを介して光ファイバアンプに戻し、光の周回に伴う自己励起によりファイバリングレーザにしてアンプ側の光カプラから出射し、出射した光を、第二の光スイッチを介して計測側の光カプラにより分割し、更に計測側の光カプラで分割した一方の光をブラッグ波長計測手段によりひずみ信号として計測すると共に、計測側の光カプラで分割した他方の光をAE計測用の光電変換器によりAE信号として計測する、 ことを特徴とするFBGセンサの計測方法。

IPC (3)：

G01B 11/16 ,  G01N 29/00 ,  G01N 29/14

FI (3)：

G01B11/16 G ,  G01N29/00 501 ,  G01N29/14

F-Term (12)：

2F065AA65 ,  2F065FF48 ,  2F065FF63 ,  2F065GG24 ,  2F065LL00 ,  2F065LL02 ,  2F065LL42 ,  2F065QQ16 ,  2F065QQ33 ,  2G047BA05 ,  2G047BC16 ,  2G047CA04