光ファイバセンサを用いたひずみ計測、および超音波・AE検出装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004145880
Publication number (International publication number)：2005326326
Application date： May. 17, 2004
Publication date： Nov. 24, 2005
Summary：

【課題】超音波検出において最適な検出感度を容易に実現することができる波長可変レーザを光源として組み合わせた構造体の健全性評価装置を実現する。【解決手段】光ファイバセンサを用いたひずみ計測および超音波・AE検出装置は、被測定物に貼り付けられるFBGセンサ1と、FBGセンサ1に接続される光サーキュレータ2と、光サーキュレータ2にそれぞれ接続された入射用カップラー8と反射用カップラー10と、入射用カップラー8にそれぞれスイッチA、Bを介して接続された広帯域光源4及び波長可変レーザ光源6と、反射用カップラー10に接続された光学フィルタ5と、光学フィルタ5の透過光と反射光が入射可能なように接続されたひずみ計測用光電変換器11、12と、反射用カップラー10に接続された超音波検出用光電変換器7とを備えている。【選択図】図15

Claim (excerpt)：

FBGセンサの反射帯域内の波長を有する波長可変レーザのレーザ光を該FBGセンサに入射させ、該FBGセンサからの反射光を光電変換器により電気信号に変換して、超音波・AEの検出波形を得ることを特徴とする光ファイバセンサを用いたひずみ計測および超音波・AE検出装置。

IPC (5)：

G01B11/16 , G01D5/26 , G01N29/04 , G01N29/14 , G01N29/24

FI (5)：

G01B11/16 G , G01D5/26 D , G01N29/04 501 , G01N29/14 , G01N29/24

F-Term (37)：

2F065AA65 , 2F065CC14 , 2F065DD03 , 2F065DD04 , 2F065FF11 , 2F065FF48 , 2F065GG04 , 2F065GG25 , 2F065LL02 , 2F065LL21 , 2F065UU01 , 2F065UU05 , 2F103BA10 , 2F103CA06 , 2F103EB02 , 2F103EB05 , 2F103EC09 , 2F103EC16 , 2G047AA05 , 2G047BA02 , 2G047BA05 , 2G047BB02 , 2G047BB04 , 2G047BC01 , 2G047BC07 , 2G047BC18 , 2G047CA01 , 2G047CA04 , 2G047CA07 , 2G047EA05 , 2G047EA08 , 2G047GD01 , 2G047GF25 , 2G047GG08 , 2G047GG17 , 2G047GG23 , 2G047GG28

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

光ファイバセンサを用いた材料の損傷評価方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-021254 Applicant：独立行政法人産業技術総合研究所
光ファイバセンサシステム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-163532 Applicant：日本電信電話株式会社
超音波受信装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-252397 Applicant：富士写真フイルム株式会社

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

日本音響学会2000年春季研究発表会講演論文集II, 20000315, p.1011〜1012

Return to Previous Page