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J-GLOBAL ID：201303057191413458

サンプルの周波数領域画像形成を提供するためのプロセス、構成およびシステム

Inventor：
ユン ソク-ヒュン

About ユン ソク-ヒュン

, 
デボア ヨハネス エフ.

About デボア ヨハネス エフ.


Applicant, Patent owner：
ザ ジェネラル ホスピタル コーポレイション

About ザ ジェネラル ホスピタル コーポレイション


Agent (2)： 正林 真之 ,  林 一好
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2012225358
Publication number (International publication number)：2013010012
Application date： Oct. 10, 2012
Publication date： Jan. 17, 2013
Summary：
【課題】光学顕微鏡法を用いて解剖学的構造またはサンプルと関連付けられた情報を取得するための装置、構成および方法を提供する。【解決手段】例えば、解剖学的サンプルに与えるように方向付けられた少なくとも1つの第1の電磁放射、および参照物に方向付けられた少なくとも1つの第2の電磁放射を含む放射を提供することができる。放射の波長は時間とともに変化することができ、波長は約1150nmより短い。干渉は、第5の放射と関連付けられた少なくとも1つの第3の放射と、第2の放射と関連付けられた少なくとも1つの第4の放射との間に検出することができる。サンプルの少なくとも一部分に相当する少なくとも1つの画像を、干渉と関連付けられたデータを用いて生成することができる。さらに、時間とともに変化する波長を有する電磁放射を与えるように構成された少なくとも1つの光源構成部を提供することができる。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
解剖学的サンプルに方向付けられた少なくとも1つの第1の電磁放射、および参照物に方向付けられた少なくとも1つの第2の電磁放射を含む放射を与えるように構成された少なくとも1つの第1の構成部であって、前記少なくとも1つの第1の構成部によって与えられた前記放射の波長は時間とともに変化し、前記波長は約1150nmより短い、少なくとも1つの第1の構成部と、 前記少なくとも1つの第1の放射に関連付けられた少なくとも1つの第3の放射と、前記少なくとも1つの第2の放射に関連付けられた少なくとも1つの第4の放射との間の干渉を検出できる少なくとも1つの第2の構成部と、 前記干渉に関連付けられたデータを用いて、前記サンプルの少なくとも一部分に対応する少なくとも1つの画像を生成できる少なくとも1つの第3の構成部と、を備える装置。
IPC (4)：
A61B 3/10 ,  G01N 21/17 ,  A61B 3/12 ,  A61B 3/14
FI (4)：
A61B3/10 R ,  G01N21/17 620 ,  A61B3/12 E ,  A61B3/14 A
F-Term (15)：
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059EE09 ,  2G059FF01 ,  2G059FF02 ,  2G059GG01 ,  2G059GG09 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ25 ,  2G059KK01 ,  2G059MM09
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
  • 国際特許出願番号PCT/US04/029148
  • 国際特許出願番号PCT/US05/039374
Cited by examiner (4)
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