スペクトル帯域の並列検出による測距並びに低コヒーレンス干渉法(LCI)及び光学コヒーレンス断層撮影法(OCT)信号の雑音低減のための装置及び方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (5)：志賀正武 , 渡邊隆 , 青山正和 , 村山靖彦 , 実広信哉
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2003562617
Publication number (International publication number)：2005516187
Application date： Jan. 24, 2003
Publication date： Jun. 02, 2005
Summary：

並列な組のスペクトル帯域を検出することによって、光学コヒーレンス断層撮影法及び低コヒーレンス干渉法(LCI)信号の検出感度を高めるための装置、方法、論理構成及び記憶媒体を提供する。各帯域は、光周波数の固有の組み合わせである。LCI広帯域幅源は、Nスペクトル帯域に分割し得る。Nスペクトル帯域を個別に検出し処理して、信号対雑音比をN倍に大きくできる。各スペクトル帯域は、別々の光検出器で検出して増幅し得る。各スペクトル帯域の場合、信号は、信号帯域を中心にしてアナログ電子回路によって帯域通過フィルタ処理され、デジタル化される。あるいは、他の選択肢として、ソフトウェアにおいて、その信号をデジタル化して、そして、帯域通過フィルタ処理してもよい。その結果、信号に対するショット雑音の影響は、スペクトル帯域数に等しい係数だけ低減し得るが、信号振幅は、同じ状態を維持し得る。ショット雑音が減少すると、システムのダイナミックレンジ及び感度が大きくなる。

Claim (excerpt)：

光学的画像形成のための装置であって、 a)干渉計と、 b)前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットと、 c)複数の検出器であって、各検出器が前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出可能な前記複数の検出器と、が含まれる装置。

IPC (4)：

G01N21/17 , A61B1/00 , A61B10/00 , G01N21/45

FI (4)：

G01N21/17 620 , A61B1/00 300D , A61B10/00 E , G01N21/45 A

F-Term (40)：

2G059AA05 , 2G059BB12 , 2G059CC16 , 2G059EE02 , 2G059EE05 , 2G059EE09 , 2G059EE12 , 2G059FF01 , 2G059FF02 , 2G059FF09 , 2G059GG01 , 2G059GG02 , 2G059GG04 , 2G059GG06 , 2G059JJ02 , 2G059JJ05 , 2G059JJ06 , 2G059JJ07 , 2G059JJ11 , 2G059JJ13 , 2G059JJ15 , 2G059JJ17 , 2G059JJ18 , 2G059JJ19 , 2G059JJ22 , 2G059JJ30 , 2G059KK03 , 2G059KK04 , 2G059MM01 , 2G059MM09 , 4C061AA22 , 4C061BB01 , 4C061CC07 , 4C061DD04 , 4C061FF24 , 4C061FF46 , 4C061FF47 , 4C061HH51 , 4C061NN05 , 4C061WW20

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (11)

分光学的断面画像測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-084639 Applicant：科学技術振興事業団
ヘテロダイン検波による酸素モニター装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-287487 Applicant：科学技術振興事業団
光学的検査方法及び光学的検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-061763 Applicant：株式会社ニコン

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