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J-GLOBAL ID:201303057971574089
はんだ検査のための検査基準登録方法およびその方法を用いた基板検査装置
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
鈴木 由充
, 小石川 由紀乃
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2012006877
Publication number (International publication number):2013148361
Application date: Jan. 17, 2012
Publication date: Aug. 01, 2013
Summary:
【課題】はんだフィレットの具体的な形状に基づく検査を行うと共に、その検査の基準を簡単に設定できるようにする。【解決手段】基板に実装された部品のはんだフィレットについて、その3次元形状を示す数値パラメータを演算により求めてその適否を判定する方法による検査の基準を設定するために、設定対象の部品の画像を示す画像表示領域51と検査基準リスト513とを含む設定画面を表示し、ユーザによる操作を受け付ける。検査基準リスト513には、複数の検査項目の項目名をそれぞれその検査項目で計測される数値パラメータの基準値の入力欄に対応づけたリスト513が表示される。ユーザは、画像表示領域51に表示された画像のほか、適宜、数値パラメータの概念を示す参考図K1を呼び出して基準値に適した数値を判別し、入力を行う。【選択図】図7
Claim (excerpt):
複数の部品がはんだ付けされた部品実装基板を複数の方向からの光による照明下で撮像し、生成された画像を用いて各部品のはんだフィレットの3次元形状を計測し、この計測結果に基づきはんだフィレットの良否を判定するはんだ検査を実施する基板検査装置に、前記良否判定のための基準となる検査基準データを登録する方法であって、
検査対象の基板上の一部品または同種の部品を複数含む部品グループを対象として、はんだフィレットの3次元形状を表す数値パラメータの適否を判定する検査の基準を設定するために、複数の検査項目の項目名をそれぞれその検査項目で計測される数値パラメータの良否を判定するための基準値の入力欄に対応づけたリストと、設定対象の部品の画像とを含む設定画面を表示して、入力欄への数値入力操作を受け付けるステップを、対象の部品を変更しながら繰り返し実行し、
毎回の設定画面で前記基準値が入力された検査項目を、その設定画面に対応する部品の検査で実施する項目に設定すると共に、当該検査項目につき入力された数値を良否判定の基準値に設定して、検査項目と基準値との組み合わせによる検査基準データを作成し、
作成された検査基準データの集合を前記基板検査装置に登録する、
ことを特徴とするはんだ検査のための検査基準登録方法。
IPC (4):
G01B 11/24
, G01N 21/956
, H05K 3/34
, G06T 1/00
FI (4):
G01B11/24 K
, G01N21/956 B
, H05K3/34 512B
, G06T1/00 305A
F-Term (49):
2F065AA23
, 2F065AA24
, 2F065AA35
, 2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065CC26
, 2F065DD04
, 2F065FF01
, 2F065FF02
, 2F065FF04
, 2F065FF09
, 2F065FF42
, 2F065FF43
, 2F065GG07
, 2F065GG17
, 2F065GG23
, 2F065HH12
, 2F065HH14
, 2F065JJ03
, 2F065JJ09
, 2F065JJ26
, 2F065PP02
, 2F065PP12
, 2F065QQ24
, 2F065QQ25
, 2F065QQ31
, 2F065RR08
, 2F065SS13
, 2G051AA65
, 2G051AB14
, 2G051BA02
, 2G051BA08
, 2G051BC01
, 2G051CA04
, 2G051CB01
, 2G051CD01
, 2G051DA07
, 2G051EB01
, 2G051EB02
, 5B057AA03
, 5B057DA03
, 5B057DB03
, 5B057DB06
, 5B057DB09
, 5B057DC09
, 5B057DC25
, 5E319CD53
, 5E319GG03
, 5E319GG15
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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基板外観検査用の検査基準データの設定方法およびこの方法を用いた基板外観検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-206098
Applicant:オムロン株式会社
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印刷はんだ検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2008-071889
Applicant:アンリツ株式会社
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実装基板外観検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-180530
Applicant:有限会社デバイスリンク
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検査基準設定装置及び方法、並びに、工程検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-139903
Applicant:オムロン株式会社
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半田付け検査の特徴量算出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-338141
Applicant:富士通株式会社
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