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J-GLOBAL ID：201303061236309263

低圧微分移動度分光計を備えた質量分析システム

Inventor：
コービー, トーマス アール.

About コービー, トーマス アール.

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シュナイダー, ブラッドリー ビー.

About シュナイダー, ブラッドリー ビー.


Applicant, Patent owner：
エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ, ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッド

About エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ, ア ビジネス ユニット オブ エムディーエス インコーポレイテッド

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アプライド バイオシステムズ (カナダ) リミテッド

About アプライド バイオシステムズ (カナダ) リミテッド


Agent (3)： 山本 秀策 ,  安村 高明 ,  森下 夏樹
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2012551316
Publication number (International publication number)：2013518396
Application date： Jan. 28, 2011
Publication date： May. 20, 2013
Summary：
質量分析システムには、低圧分離領域および微分移動度分光計が含まれる。微分移動度分光計には、イオンフロー経路を画定する少なくとも一対のフィルタ電極が含まれ、このイオンフロー経路において、フィルタ電極は、サンプルイオンのイオン移動度特性に基づいてサンプルイオンの選択された部分を通過させるための電界を生成する。微分移動度分光計にはまた、DCおよびRF電圧をフィルタ電極の少なくとも1つに供給して、電界を生成する電圧源と、低圧分離領域を通過したサンプルイオンを受け取るイオン入口と、サンプルイオンの選択された部分を出力するイオン出口と、が含まれる。質量分光計は、サンプルイオンの選択された部分のいくらかまたは全てを受け取る。
Claim (excerpt)：
低圧分離領域と、 微分移動度分光計であって、 少なくとも一対のフィルタ電極であって、前記フィルタ電極間にイオンフロー経路を画定し、サンプルイオンの移動度特性に基づいて前記サンプルイオンの選択された部分を通過させるための電界を生成するフィルタ電極と、 前記フィルタ電極の少なくとも1つにRFおよびDC電圧を供給して前記電界を生成する電圧源と、 前記低圧分離領域を通過したサンプルイオンを受け取るためのイオン入口と、 前記サンプルイオンの前記選択された部分を出力するためのイオン出口と、含む微分移動度分光計と、 前記サンプルイオンにおける前記選択された部分のいくらかまたは全てを受け取るための質量分光計と、 を含む質量分析システム。
IPC (4)：
H01J 49/40 ,  H01J 49/06 ,  H01J 49/10 ,  G01N 27/62
FI (4)：
H01J49/40 ,  H01J49/06 ,  H01J49/10 ,  G01N27/62 B
F-Term (7)：
2G041CA01 ,  2G041CA02 ,  2G041EA05 ,  5C038FF07 ,  5C038FF13 ,  5C038GG08 ,  5C038GH05
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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