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J-GLOBAL ID:200903011837008260

質量分析計

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 特許業務法人池内・佐藤アンドパートナーズ
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2007554650
Publication number (International publication number):2008530748
Application date: Feb. 14, 2006
Publication date: Aug. 07, 2008
Summary:
電界強度の関数としてのイオン移動度の差に従ってイオンを分離する装置6が開示される。装置6は、上側電極7a、下側電極7b、および複数の中間電極8を含む。非対称電圧波形が上側電極7aに印加され、DC補償電圧が下側電極7bに印加される。【選択図】 図3
Claim (excerpt):
1つ以上の第1の電極と、 1つ以上の第2の電極と、 使用時にイオンが走行する概してまたは実質的に平面に配置され、前記1つ以上の第1の電極と前記1つ以上の第2の電極との間に配置される1つ以上の層の中間電極と、 前記1つ以上の第1の電極、および/または前記1つ以上の層の中間電極、および/または前記1つ以上の第2の電極に非対称電圧波形を印加するように配置および適合される第1の電圧手段とを含む装置。
IPC (4):
H01J 49/40 ,  H01J 49/06 ,  H01J 49/26 ,  G01N 27/62
FI (4):
H01J49/40 ,  H01J49/06 ,  H01J49/26 ,  G01N27/62 E
F-Term (26):
2G041CA01 ,  2G041CA02 ,  2G041DA01 ,  2G041DA02 ,  2G041DA03 ,  2G041DA04 ,  2G041DA05 ,  2G041DA09 ,  2G041DA13 ,  2G041DA14 ,  2G041DA16 ,  2G041DA18 ,  2G041EA05 ,  2G041GA02 ,  2G041GA03 ,  2G041GA05 ,  2G041GA06 ,  2G041GA08 ,  2G041GA13 ,  2G041GA29 ,  2G041KA01 ,  5C038FF13 ,  5C038HH02 ,  5C038HH05 ,  5C038HH26 ,  5C038HH28
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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