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J-GLOBAL ID:200903011837008260
質量分析計
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
特許業務法人池内・佐藤アンドパートナーズ
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2007554650
Publication number (International publication number):2008530748
Application date: Feb. 14, 2006
Publication date: Aug. 07, 2008
Summary:
電界強度の関数としてのイオン移動度の差に従ってイオンを分離する装置6が開示される。装置6は、上側電極7a、下側電極7b、および複数の中間電極8を含む。非対称電圧波形が上側電極7aに印加され、DC補償電圧が下側電極7bに印加される。【選択図】 図3
Claim (excerpt):
1つ以上の第1の電極と、
1つ以上の第2の電極と、
使用時にイオンが走行する概してまたは実質的に平面に配置され、前記1つ以上の第1の電極と前記1つ以上の第2の電極との間に配置される1つ以上の層の中間電極と、
前記1つ以上の第1の電極、および/または前記1つ以上の層の中間電極、および/または前記1つ以上の第2の電極に非対称電圧波形を印加するように配置および適合される第1の電圧手段とを含む装置。
IPC (4):
H01J 49/40
, H01J 49/06
, H01J 49/26
, G01N 27/62
FI (4):
H01J49/40
, H01J49/06
, H01J49/26
, G01N27/62 E
F-Term (26):
2G041CA01
, 2G041CA02
, 2G041DA01
, 2G041DA02
, 2G041DA03
, 2G041DA04
, 2G041DA05
, 2G041DA09
, 2G041DA13
, 2G041DA14
, 2G041DA16
, 2G041DA18
, 2G041EA05
, 2G041GA02
, 2G041GA03
, 2G041GA05
, 2G041GA06
, 2G041GA08
, 2G041GA13
, 2G041GA29
, 2G041KA01
, 5C038FF13
, 5C038HH02
, 5C038HH05
, 5C038HH26
, 5C038HH28
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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長手方向の電界で駆動される非対称イオン移動度フィルタおよび検出システム
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2001-537088
Applicant:ザ・チャールズ・スターク・ドレイパー・ラボラトリー・インコーポレイテッド
-
エレクトロスプレーを使用する高電界非対称イオン移動度分光分析方法および装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2002-581074
Applicant:ザ・チャールズ・スターク・ドレイパー・ラボラトリー・インコーポレイテッド
-
容量放電プラズマ・イオン源
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2003-519958
Applicant:シオネックス・コーポレーション
-
イオン移動度分析及びイオントラップ質量分析のための単一装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2006-517564
Applicant:ブリガム・ヤング・ユニバーシティ
-
質量分析計
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2007-543919
Applicant:マイクロマスユーケーリミテッド
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