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J-GLOBAL ID：201303068072305754

3次元レーザ測量装置及び3次元レーザ測量方法

Inventor： 倉爪 亮 ,  清水 遠
Applicant, Patent owner： 国立大学法人九州大学 ,  西武造園株式会社
Agent (3)： 廣瀬 隆行 ,  関 大祐 ,  野津 万梨子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2012055763
Publication number (International publication number)：2013190272
Application date： Mar. 13, 2012
Publication date： Sep. 26, 2013
Summary：

【課題】少ない作業工程で,測定対象物の3次元形状を忠実に把握でき,機器導入あたり,技術的・精神的障害及び導入コストを最小限とすることができる3次元レーザ測量装置,及びそれを用いた3次元レーザ測量方法を提供する。【解決手段】3次元測量装置100は,光波測距儀10とレーザスキャナ20を組み合せて構成されている。光波測距儀10によって機械点の座標を取得し,機械点からレーザスキャナ20によって測定対象物のスキャニングを行い,光波測距儀10及びレーザスキャナ20により取得したデータに基づいて,測定対象物に含まれる各測定点の座標を算出する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

レーザ光を測定対象物に向けて照射して水平方向及び垂直方向にスキャニングを行い,測定対象物の座標データを取得可能な3次元レーザ測量装置であって, 2箇所の後視点(B1,B2)に設置された2つのターゲット(T1,T2)に対して,それぞれ照準光を照射し,各ターゲット(T1,T2)において反射した反射光を受光することにより,前記3次元レーザ測量装置が位置する機械点(M)から各後視点(B1,B2)までの距離を含む後視点データに基づいて,前記機械点(M)の座標データを取得する光波測距儀(10)と, 前記機械点(M)から前記測定対象物(O)の複数の測定点(Pn)に対してラインレーザ光を照射し,水平方向及び垂直方向にスキャニングを行い,前記機械点(M)から各測定点(Pn)までの距離,水平角度,及び垂直角度を含む測定点データを取得するレーザスキャナ(20)と, 前記光波測距儀(10)により取得した前記機械点(M)の座標データ,及び前記レーザスキャナにより取得した前記測定点データ(20)に基づいて,前記測定対象物(O)の各測定点(Pn)の座標を求める前記中央演算装置(30)と,を備えた 3次元レーザ測量装置。

IPC (1)：

G01C 15/00

FI (2)：

G01C15/00 103A ,  G01C15/00 103B