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J-GLOBAL ID：201303070579786457

ナノポア式分析装置

Inventor：
大浦 剛

About 大浦 剛


Applicant, Patent owner：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

About 株式会社日立ハイテクノロジーズ


Agent (2)： 平木 祐輔 ,  藤田 節
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011173567
Publication number (International publication number)：2013036865
Application date： Aug. 09, 2011
Publication date： Feb. 21, 2013
Summary：
【課題】ナノポアを用いた計測方法において、低濃度の試料に関してナノポアを通過する通過頻度を向上させ、スループットを改善させることが可能なナノポア式生体高分子分析装置及びそれを用いた生体高分子分析方法の提供。【解決手段】ナノポア式生体高分子分析装置であって、基板で隔てられた試料導入区画と試料流出区画とを有するチャンバと、前記試料導入区画に設けられた第1の電極及び前記試料流出区画に設けられた第2の電極と、前記基板に形成されている薄膜と、前記基板の薄膜に設けられた、前記試料導入区画と前記試料流出区画とを連通するナノポアと、前記基板の前記ナノポアの近傍に配置された第3の電極と、電極に対する電圧印加手段と、を備えたチャンバ部を有し、前記電圧印加手段が、第1の電極と第3の電極の間、第1の電極と第2の電極の間、及び第3の電極と第2の電極の間にそれぞれ電圧を印加する手段を含むことを特徴とする。【選択図】図6
Claim (excerpt)：
ナノポア式生体高分子分析装置であって、 基板で隔てられた試料導入区画と試料流出区画とを有するチャンバと、 前記試料導入区画に設けられた第1の電極及び前記試料流出区画に設けられた第2の電極と、 前記基板に形成されている薄膜と、 前記基板の薄膜に設けられた、前記試料導入区画と前記試料流出区画とを連通するナノポアと、 前記基板の前記ナノポアの近傍に配置された第3の電極と、 電圧印加手段と、 を備えたチャンバ部を有し、 前記電圧印加手段が、第1の電極と第3の電極の間、第1の電極と第2の電極の間、及び第3の電極と第2の電極の間に電圧を印加する手段を含むことを特徴とする、ナノポア式生体高分子分析装置。
IPC (4)：
G01N 27/28 ,  G01N 33/483 ,  G01N 27/447 ,  G01N 27/416
FI (5)：
G01N27/28 P ,  G01N33/483 F ,  G01N27/26 331D ,  G01N27/46 336M ,  G01N27/28 321F
F-Term (7)：
2G045DA12 ,  2G045DA13 ,  2G045DA14 ,  2G045DA30 ,  2G045DA36 ,  2G045FB05 ,  2G045GC20
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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