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J-GLOBAL ID：201303080653044447

光学特性測定方法及び装置

Inventor：
江口 明大

About 江口 明大

, 
下田 知之

About 下田 知之


Applicant, Patent owner：
富士フイルム株式会社

About 富士フイルム株式会社


Agent (1)： 小林 和憲
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011149105
Publication number (International publication number)：2013015442
Application date： Jul. 05, 2011
Publication date： Jan. 24, 2013
Summary：
【課題】光学フィルムを停止させることなく、光学フィルムの光学特性を高精度に測定する。【解決手段】光学フィルム11に円偏光を測定光として照射する投光部12と、X方向に配列された複数種類の波長板と、各波長板に対応する領域内に、ひとつの測定値を得る単位となる単位受光エリアが複数配列された撮像素子とを有し、光学フィルム11を透過した測定光を複数種類の偏光状態で単位受光エリア毎に受光する受光部13と、光学フィルム11をX方向に搬送することにより、単位測定エリアをX方向に移動させる搬送ローラ14と、単位測定エリアをX方向に移動させながら単位測定エリアを透過した測定光を複数の単位受光エリアで受光することによって、同一の単位測定エリアについて複数得られる測定値から単位測定エリアのミュラー行列を算出するとともに、算出したミュラー行列の要素を用いて光学特性を算出する制御部16と、を備える。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
透明な測定対象に所定偏光状態の光を測定光として照射する投光手段と、 所定方向に配列された複数種類の波長板と、前記波長板を透過した前記測定光が入射される撮像領域において、前記複数種類の波長板の各々に対応する領域内に、ひとつの測定値を得る単位となる単位受光エリアが前記所定方向に沿って複数配列され、前記測定対象を透過した前記測定光を、前記単位受光エリア毎に前記波長板によって定まる複数種類の偏光状態で受光する受光手段と、 前記単位受光エリアに対応するサイズの前記測定対象上の領域を単位測定エリアとするときに、前記受光手段と前記測定対象を前記所定方向に沿って相対的に移動させることにより、前記単位測定エリアを前記所定方向に移動させる移動手段と、 前記移動手段によって前記単位測定エリアを前記所定方向に移動させながら前記単位測定エリアを透過した前記測定光を複数の前記単位受光エリアで受光することにより、同一の前記単位測定エリアについて複数得られる測定値に基づいて、前記単位測定エリアのミュラー行列を算出するミュラー行列算出手段と、 前記単位測定エリアのミュラー行列の要素を用いて前記単位測定エリアの光学特性を算出する光学特性算出手段と、 を備えることを特徴とする光学特性測定装置。
IPC (1)：
G01N 21/23
FI (1)：
G01N21/23
F-Term (13)：
2G059AA02 ,  2G059BB10 ,  2G059EE05 ,  2G059FF01 ,  2G059GG04 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ20 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  2G059NN01 ,  2G059NN05 ,  2G059NN08
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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