半導体技術を用いた熱電装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (6)：勝沼宏仁 , 佐藤泰和 , 川崎康 , 関根毅 , 赤岡明 , 木本大介
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2012522137
Publication number (International publication number)：2013501354
Application date： Jul. 26, 2010
Publication date： Jan. 10, 2013
Summary：

本発明は、熱源に隣接して配置された温熱側(Th)と、冷熱側(Tc)とを含み、温熱側と冷熱側との間の温度差に依存する信号(U)を出力する、半導体技術を用いた集積化された熱電装置に関する。温熱側および冷熱側は、熱源の温度が変化する際に、換言すると、センサが劣悪な動作条件を有する場合に、それらの温度が等しくなり易いように配置される。測定回路は、熱源の温度が変化した時刻(t0)からの、信号の連続的に可変の部分(t0-t1)に応じて、有用な情報を生成する。熱源の温度が変化を止めた場合には、温熱側および冷熱側の温度が等しくなり、且つ、信号はキャンセルされ、そして、変化を止める。温熱側と冷熱側との間の距離は、100μm未満とすることができる。

Claim (excerpt)：

熱源(16)に近接して配置された温熱側(Th)と、冷熱側(Tc)とを備え、且つ、前記温熱側と前記冷熱側との間の温度差に従って、信号(U)を供給する、半導体技術で集積化された熱電装置であって、前記温熱側および前記冷熱側は、熱源の温度が変化する際に、前記温熱側の温度と前記冷熱側の温度とが等しくなり易いように、配置される、ことを特徴とする熱電装置。

IPC (2)：

H01L 35/32 , H01L 35/34

FI (2)：

H01L35/32 A , H01L35/34

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

電流検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-340342 Applicant：矢崎総業株式会社
特開平4-335560
半導体装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2005-087252 Applicant：NECエレクトロニクス株式会社

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