物質同定装置及び物質同定方法

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：菊地保宏
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011269268
Publication number (International publication number)：2013119000
Application date： Dec. 08, 2011
Publication date： Jun. 17, 2013
Summary：

【課題】トモシンセシス法を採用する断層装置等から得られる画像を使って、精度良く且つ簡便に対象物に含まれる物質の種類を同定する手法を提供する。【解決手段】 X線のエネルギを複数のエネルギ領域に弁別して光子計数した計数値及びその計数値で再構成した被検体画像を用いて、被検体の中の注目部位に在る物質を同定する装置である。この装置では、厚さ及び密度の均一な物質を撮像した計数値に基づいて参照画像(S1,S2)が作成され、この参照画像の画素値で被検体画像の画素値を画素毎に除算して当該被検体画像の画素値が規格化される(S3〜S6)。この規格化された画素値から、吸収情報を与えた軸を2次元の一方の軸に、且つ、当該2次元の他方の軸にX線のビームハードニング情報を与えた散布図が作成される(S8〜S10)。この散布図から、被検体の撮像部分に在る物質の種類を同定するための同定情報が取得される(S111〜S14)。【選択図】図7

Claim (excerpt)：

1次元又は2次元の配列の複数の画素を形成し且つ当該画素のそれぞれにX線源から入射したX線を光子と見做して検出し当該光子のエネルギに応じた電気量のパルス信号を出力する複数の検出素子を有する光子計数型の検出器と、前記複数の検出素子それぞれからの前記パルス信号の計数値を2つ以上のエネルギ領域の夫々について収集する複数のデータ収集回路と、被検体を撮像したときの前記パルス信号の前記計数値に基づいて前記X線の吸収情報に応じた被検体画像を作成する被検体画像作成手段と、を備えた撮像システムにより作成された前記被検体画像を用いる装置であって、前記X線により厚さ及び密度の均一な物質を撮像して前記パルス信号の前記計数値に基づいた参照画像を作成する参照画像作成手段と、前記参照画像の画素値で前記被検体画像の画素値を画素毎に除算して当該被検体画像の画素値を規格化する規格化手段と、この規格化手段により規格化された画素値から、前記吸収情報を与えた軸と、前記X線のビームハードニング情報を与えた1つ以上の軸とからなる散布図を作成する散布図作成手段と、この散布図作成手段により作成された前記散布図から、前記被検体の撮像された部分に在る物質の種類を同定するための同定情報を取得する同定情報取得手段と、を備えたことを特徴とする物質同定装置。

IPC (2)：

A61B 6/14 , G01T 7/00

FI (2)：

A61B6/14 311 , G01T7/00 A

F-Term (25)：

2G088EE25 , 2G088GG19 , 2G088GG21 , 2G088JJ05 , 2G088KK24 , 2G088KK29 , 2G088KK35 , 4C093AA11 , 4C093AA12 , 4C093AA22 , 4C093CA21 , 4C093DA05 , 4C093EB13 , 4C093EB17 , 4C093EB18 , 4C093EB28 , 4C093FC24 , 4C093FD05 , 4C093FD08 , 4C093FD09 , 4C093FD12 , 4C093FF03 , 4C093FF06 , 4C093FF08 , 4C093FF28

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

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