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J-GLOBAL ID:201303090533635854
ゼータ電位測定セル及びゼータ電位測定装置
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
西村 竜平
, 齊藤 真大
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2013184003
Publication number (International publication number):2013238625
Application date: Sep. 05, 2013
Publication date: Nov. 28, 2013
Summary:
【課題】電気浸透流を可及的に小さくすることにより、電気泳動による粒子の流れを精度良く測定する。【解決手段】液体試料が収容される略柱状をなす収容空間S1と、収容空間S1の側周面に開口し外部から収容空間S1に液体試料を導入する試料導入路201を有するセル本体21と、収容空間S1の軸方向対向面の略全面を形成する電極面22Aを有する一対の印加電極22と、収容空間S1の軸方向対向面とは異なる側周面に形成された、収容空間S1内に光Lを導入する光導入部23及び収容空間S1を通過した光Sを外部に導出する光導出部24とを有する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
ゼータ電位測定装置に用いられるゼータ電位測定セルであって、
液体試料が収容される略柱状をなす収容空間と、当該収容空間の側周面に開口し外部から収容空間に液体試料を導入する試料導入路を内部に有するセル本体と、
前記収容空間の軸方向対向面の略全面を形成する電極面を有する一対の印加電極と、
前記収容空間の前記軸方向対向面とは異なる側周面において、前記導入路と干渉しない位置に対向して形成され、前記収容空間内に光を導入する光導入部及び前記収容空間を通過した光を外部に導出する光導出部とを有するゼータ電位測定セル。
IPC (1):
FI (1):
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
-
機能物質群を用いて金属を選択的に分離する装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-052833
Applicant:松下電器産業株式会社
-
光走査型二次元濃度分布測定装置を用いたゼータ電位計測方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-049693
Applicant:株式会社堀場製作所
-
微粒子分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-114917
Applicant:株式会社日立製作所
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Cited by examiner (6)
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機能物質群を用いて金属を選択的に分離する装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-052833
Applicant:松下電器産業株式会社
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光走査型二次元濃度分布測定装置を用いたゼータ電位計測方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-049693
Applicant:株式会社堀場製作所
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微粒子分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-114917
Applicant:株式会社日立製作所
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