Pat
J-GLOBAL ID：201303090790606520
半導体放射線検出器およびそれを用いた核医学診断装置
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
春日 讓
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2012112665
Publication number (International publication number)：2013238533
Application date： May. 16, 2012
Publication date： Nov. 28, 2013
Summary：
【課題】122keVおよび662keVのγ線エネルギースペクトルを計測可能な半導体放射線検出器、およびそれを用いた核医学診断装置を提供することにある。【解決手段】半導体放射線検出器101は、カソード電極112およびアノード電極113で挟まれる半導体結晶111を用いてなる。半導体結晶111は、不純物としての鉛の濃度が0.1ppm未満である臭化タリウムの単結晶で構成されている。臭化タリウム単結晶中の鉛原子の濃度が小さいので、タリウム原子に対して鉛原子が置換してできる結晶中の欠陥の密度が小さくなり、電荷キャリアの捕獲長を長くできるので、放射線検出器として、高いエネルギー分解能で122keVおよび662keVのγ線エネルギースペクトルを計測することができる。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
カソード電極およびアノード電極で挟まれる半導体結晶を用いてなる半導体放射線検出器であって、
前記半導体結晶は、不純物としての鉛の濃度が0.1ppm未満である臭化タリウムの単結晶で構成されていることを特徴とする半導体放射線検出器。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (10)：
2G088EE01
, 2G088FF04
, 2G088FF07
, 2G088GG21
, 2G088JJ29
, 2G188AA01
, 2G188BB04
, 2G188BB07
, 2G188CC28
, 2G188DD30
Cited by examiner (2)
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半導体放射線検出器及び放射線検出装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2004-027091
Applicant：株式会社日立製作所
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放射線計測装置および核医学診断装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2010-052535
Applicant：株式会社日立製作所
Article cited by the Patent：
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