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J-GLOBAL ID：201402210420452434   Reference number：14A1102157

半導体表面を超高速で流れる電子を可視化=フェムト秒レーザを利用した時間分解光電子顕微鏡の開発=

Author (3)： FUKUMOTO KEIKI (東京工大) ,  ONDA KEN (東京工大) ,  KOSHIHARA SHIN'YA (東京工大)
Material： 光アライアンス  (Optical Alliance)
Volume： 25  Issue： 10  Page： 41-44  Publication year： Oct. 01, 2014 
JST Material Number： L1746A  ISSN： 0917-026X  CODEN： HARAEW  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *pulsed laser ,  *emission-type microscope ,  time resolution ,  carrier ,  *electron transfer ,  surface ,  visualization ,  *femtosecond laser ,  *photoemission electron microscope ,  charge carrier ,  semiconductor surfaces

JST classification (2)： Electron and ion microscopes  (BD02050B) ,  Applications of lasers  (BD04100V)

Terms in the title (8)： 半導体表面 ,  超高速 ,  電子 ,  可視化 ,  フェムト秒レーザ ,  分解 ,  光電子顕微鏡 ,  開発