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J-GLOBAL ID：201402227684350915   Reference number：14A0660755

Permeability Measurements of Magnetic Thin Film with Microstrip Probe

マイクロストリッププローブを用いた磁性薄膜の透磁率測定

Author (6)： KIMURA T. (Tohoku Gakuin Univ.) ,  YABUKAMI S. (Tohoku Gakuin Univ.) ,  OZAWA T. (Tohoku Gakuin Univ.) ,  MIYAZAWA Y. (Toei Scientific Industrial Co. Ltd) ,  KENJU H. (Toei Scientific Industrial Co. Ltd) ,  SHIMADA Y. (Graduate School of Engineering, Tohoku Univ.)
Material： Journal of the Magnetics Society of Japan  (J Magn Soc Jpn)
Volume： 38  Issue： 3-1  Page： 87-91 (J-STAGE)  Publication year： 2014 
JST Material Number： Z0944A  ISSN： 1882-2924  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *magnetic thin film ,  *magnetic permeability measurement ,  microstrip line ,  probe ,  high sensitivity ,  wide band ,  Newton-Raphson method ,  optimization ,  cobalt compound ,  iron compound ,  boron compound ,  eddy current ,  analysis ,  laminate structure ,  device structure ,  ferromagnetic resonance ,  sputtering ,  ruthenium compound ,  Landau-Lifshitz equation
Semi thesaurus term： theoretical analysis

JST classification (1)： Magnetic materials  (NA04040H)

Reference (8)：

• 1) P. A. Calcagno, D. A. Thompson: Rev. Sci. Instrum., 46, 904 (1975).
• 2) M. Yamaguchi, S. Yabukami and K.I. Arai: IEEE Trans. Magn., 32, 4941 (1996).
• 3) H. B. Weir: Proc IEEE., 62, 33 (1975).
• 4) A. Sato, S. Yabukami, T. Ozawa, Y. Miyazawa, K. Yanagi, Y. Shimada, M. Munakata, and T. Shiokawa: J. Magn. Soc. Jpn., 36, 235 (2012).
• 5) W.H. Press, S.A. Teukolsky, W.T. Vetterling and B.P. Flannery: Numerical Recipes in C (Japanese Edition)., pp.251-281, ( Gijutsu Hyoron sha ,Tokyo,1993).

Terms in the title (2)： 磁性薄膜 ,  透磁率測定