Art

J-GLOBAL ID：201402243889794684   Reference number：14A1028406

環境放射線による電子装置のソフトエラー・障害対策の現状と取り組み

Author (5)： IBE EISHI (日立 横浜研 生産技術研究セ) ,  TOBA TADANOBU (日立 横浜研 生産技術研究セ) ,  SHIMBO KEN'ICHI (日立 横浜研 生産技術研究セ) ,  UEZONO TAKUMI (日立 横浜研 生産技術研究セ) ,  TANIGUCHI HITOSHI (日立 横浜研 生産技術研究セ)
Material： 日立評論
Volume： 96  Issue： 7/8  Page： 496-501  Publication year： Aug. 01, 2014 
JST Material Number： F0062A  ISSN： 0367-5874  CODEN： HITAA  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *soft error ,  countermeasure ,  environmental radiation ,  safety ,  reliability(ratio) ,  *semiconductor device
Semi thesaurus term： functional safety ,  Trouble measures ,  semiconductor device reliability

JST classification (1)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G)

Reference (21)：

• E. Ibe: Current and Future Trend on Cosmic-Ray-Neutron Induced Single Event Upset at the Ground down to 0.1-Micron-Device, The Svedberg Laboratory Workshop on Applied Physics, Uppsala, May, 3, 2001, No.1
• G. Gasiot, et al.: Alpha-Induced Multiple Cell Upsets in Standard and Radiation Hardened SRAMs Manufactured in a 65 nm CMOS Technology, TNS, 2006, Vol.53, No.6, pp. 479-3486
• E. Ibe, et al.: Fault-based reliable design-on-upper-bound of electronic systems for terrestrial radiation including muons, electrons, protons and low energy neutrons, Int'l On-Line Testing Symposium 2012, Sitges, Spain, June 27-29, 2012, No.3.2
• N. Kanekawa, et al.: Dependability in Electronic Systems-Mitigation of Hardware Failures, Soft Errors, and Electro-Magnetic Disturbances-, Springer, 2010
• S. Wen, et al.: Thermal neutron soft error rate for SRAMS in the 90NM-45NM technology range, IEEE Int'l Reliability Physics Symposium 2010, Anaheim, CA, May 2-6, 2010, No.SE5.1, pp.1036-1039

Terms in the title (5)： 環境放射線 ,  電子装置 ,  ソフトエラー ,  障害対策 ,  現状