Art

J-GLOBAL ID：201402261438795278   Reference number：14A0044056

Three-dimensional Imaging of Solid/Liquid Interfacial Structures by Frequency Modulation AFM

液中周波数変調AFMを用いた固液界面構造の三次元計測

Author (2)： FUKUMA TAKESHI (金沢大学) ,  FUKUMA TAKESHI (科学技術振興機構ACT-C)
Material： 表面科学  (JSSSJ)
Volume： 34  Issue： 9  Page： 476-481 (J-STAGE)  Publication year： 2013 
JST Material Number： F0940B  ISSN： 0388-5321  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *atomic force microscope ,  frequency modulation ,  *solid-liquid interface ,  *surface structure ,  3-D measurement ,  cantilever beam ,  position ,  solvation ,  mica ,  water ,  microscopy ,  scanning electron microscope
Semi thesaurus term： in solution ,  *interfacial structure ,  *frequency modulation AFM ,  scanning force microscopy

JST classification (2)： Solid-liquid interface  (CB12050B) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Reference (20)：

• ALBRECHI, T.R. J.Appl.Phys. 1991, 69, 668
• MORITA, S. Noncontact Atomic Force Microscopy. 2002
• MORITA, S. Noncontact Atomic Force Microscopy. 2009, 2
• FUKUMA, T. Rev.Sci.Instrum. 2005, 76, 053704
• FUKUMA, T. Appl.Phys.Lett. 2005, 86, 193108

Terms in the title (4)： 液中 ,  周波数変調AFM ,  固液界面 ,  三次元計測