Art

J-GLOBAL ID：201402264689809226   Reference number：14A0028176

Sample preparation by focused ion beam micromachining for transmission electron microscopy imaging in front-view

正面図における透過型電子顕微鏡イメージングのための集束イオンビームマイクロマシニングによるサンプル調製

Author (2)： JUBLOT Michael (Aix Marseille Univ., Marseille, FRA) ,  TEXIER Michael (Aix Marseille Univ., Marseille, FRA)
Material： Micron
Volume： 56  Page： 63-67  Publication year： Jan. 2014 
JST Material Number： E0318E  ISSN： 0968-4328  Document type： Article
Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (6)： 正面図 ,  透過型電子顕微鏡 ,  イメージング ,  集束イオンビーム ,  マイクロマシニング ,  サンプル調製