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J-GLOBAL ID：201402270936112896   Reference number：14A0536724

Advanced Kirkpatrick-Baezミラー光学系を用いた高分解能かつ色収差のない硬X線顕微鏡の開発

Author (7)： MATSUYAMA SATOSHI (大阪大 大学院工学研究科) ,  EMI YOJI (大阪大 大学院工学研究科) ,  KINO HIDETOSHI (大阪大 大学院工学研究科) ,  SANO YASUHISA (大阪大 大学院工学研究科) ,  KOMURA YOSHIKI (理研) ,  ISHIKAWA TETSUYA (理研) ,  YAMAUCHI KAZUTO (大阪大 大学院工学研究科)
Material： 精密工学会大会学術講演会講演論文集  (精密工学会大会シンポジウム資料集)
Volume： 2014  Issue： 春季(CD-ROM)  Page： ROMBUNNO.R46  Publication year： Mar. 01, 2014 
JST Material Number： Y0914A  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-ray microscope ,  hard X-ray ,  *chromatic aberration ,  *aspherical mirror ,  resolving power ,  image formation(optics) ,  synchrotron radiation facility
Semi thesaurus term： SPring-8

JST classification (2)： Microscopy determination of structures  (BK01040E) ,  Electron and ion microscopes  (BD02050B)

Terms in the title (7)： Kirkpatrick-Baezミラー ,  光学系 ,  高分解能 ,  色収差 ,  硬X線 ,  顕微鏡 ,  開発