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J-GLOBAL ID：201402279582171099   Reference number：14A0443723

Transmission secondary ion mass spectrometry using 5 MeV C₆₀⁺ ions

5MeV C₆₀⁺イオンを用いた透過二次イオン質量分析

Author (7)： NAKAJIMA K. (Dep. of Micro Engineering, Kyoto Univ., Kyoto 615-8540, JPN) ,  NAGANO K. (Dep. of Micro Engineering, Kyoto Univ., Kyoto 615-8540, JPN) ,  SUZUKI M. (Dep. of Micro Engineering, Kyoto Univ., Kyoto 615-8540, JPN) ,  NARUMI K. (Takasaki Advanced Radiation Res. Inst., Japan Atomic Energy Agency, 1233 Watanuki-machi, Takasaki, Gumma 370-1292, JPN) ,  SAITOH Y. (Takasaki Advanced Radiation Res. Inst., Japan Atomic Energy Agency, 1233 Watanuki-machi, Takasaki, Gumma 370-1292, JPN) ,  HIRATA K. (National Metrology Inst. of Japan, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., 1-1-1 Higashi, Tsukuba ...) ,  KIMURA K. (Dep. of Micro Engineering, Kyoto Univ., Kyoto 615-8540, JPN)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 104  Issue： 11  Page： 114103-114103-4  Publication year： Mar. 17, 2014 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *secondary ion mass spectrometry ,  *fullerene C60 ,  ion beam ,  cluster ion ,  amino acid ,  *mass spectrum ,  spatial distribution ,  aromatic amine ,  primary amine

JST classification (1)： Mass spectrometry  (CC03013N)

Substance index (1)： Aniline

Terms in the title (3)： イオン ,  透過 ,  二次イオン質量分析