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J-GLOBAL ID：201403006498982941

コンクリート面の補修工法選定方法及びその装置

Inventor：
戸田 勝哉

About 戸田 勝哉

, 
中村 善彦

About 中村 善彦


Applicant, Patent owner：
株式会社IHIインフラシステム

About 株式会社IHIインフラシステム


Agent (1)： 絹谷 信雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2012245723
Publication number (International publication number)：2014095565
Application date： Nov. 07, 2012
Publication date： May. 22, 2014
Summary：
【課題】分光分析で検出した塩化物イオン濃度の分布などから適正な補修箇所を特定すると共に補修工法を選定できるコンクリート面の補修工法選定方法及びその装置を提供する。【解決手段】コンクリート面Sの劣化状態の各グレードを塩化物イオン濃度に対応させる共に、各グレード毎に塩化物イオン濃度値の濃度区分G〜Aを設定し、その各濃度区分G〜Aに対して推奨される補修工法4〜1を決定しておき、しかる後、補修すべきコンクリート面を、メッシュ毎に分割して塩化物イオン濃度を測定し、そのメッシュ毎の塩化物イオン濃度から濃度区分G〜Aに基づいたコンター図31を作成し、そのコンター図31で表記された各濃度区分G〜Aの集合体に対して、順次高濃度区分Gから当該濃度区分Gの集合体G1を含むように区分線Lにて区画して補修すべきコンクリート面の補修工法を区分けするものである。【選択図】図9
Claim (excerpt)：
外観上で規定されたコンクリート面の劣化状態の各グレードに対して、コンクリートの劣化状態を塩化物イオン濃度に対応させると共に、各グレード毎に塩化物イオン濃度値の範囲を設定して各グレードに対応した濃度区分を設定し、その各濃度区分に対して推奨される補修工法を決定しておき、しかる後、補修すべきコンクリート面を、メッシュ毎に分割して赤外線分光分析して各メッシュ毎の塩化物イオン濃度を測定し、そのメッシュ毎の塩化物イオン濃度から前記濃度区分に基づいたコンター図を作成し、そのコンター図で表記された各濃度区分の集合体に対して、順次高濃度区分から当該濃度区分の集合体を含むように区分線にて区画して補修すべきコンクリート面の補修工法を区分けすることを特徴とするコンクリート面の補修工法選定方法。
IPC (1)：
G01N 21/35
FI (1)：
G01N21/35
F-Term (14)：
2G059AA01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB08 ,  2G059CC02 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059FF01 ,  2G059HH01 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059LL04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (4)
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