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J-GLOBAL ID：201103007290258306

分光分析装置

Inventor：
戸田 勝哉

About 戸田 勝哉

, 
倉田 孝男

About 倉田 孝男


Applicant, Patent owner：
株式会社IHIインフラシステム

About 株式会社IHIインフラシステム

, 
株式会社IHI検査計測

About 株式会社IHI検査計測


Agent (1)： 絹谷 信雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010117474
Publication number (International publication number)：2011242376
Application date： May. 21, 2010
Publication date： Dec. 01, 2011
Summary：
【課題】測定時に人による誤差が発生しにくく、測定作業を効率的に行うことが可能な分光分析装置を提供する。【解決手段】測定対象面Sに光を照射する光源2と、測定対象面Sからの反射光を受光する受光部3と、受光部3で受光した反射光のスペクトルを測定する分光器4と、分光器4で測定した反射光のスペクトルを基に、測定対象面Sにおける劣化因子の濃度を演算する演算手段5とを備えた分光分析装置において、光源2と受光部3とを収容するプローブヘッド11を備え、プローブヘッド11は、測定対象面Sに対する光源2と受光部3の位置関係を一定に保ちつつ、光源2と受光部3を測定対象面Sに沿って移動させる移動機構12と、光源2と受光部3の測定対象面Sに沿った移動距離を検出する移動距離検出手段13と、を有する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
測定対象面に光を照射する光源と、前記測定対象面からの反射光を受光する受光部と、該受光部で受光した反射光のスペクトルを測定する分光器と、該分光器で測定した反射光のスペクトルを基に、前記測定対象面における劣化因子の濃度を演算する演算手段とを備えた分光分析装置において、 前記光源と前記受光部とを収容するプローブヘッドを備え、 前記プローブヘッドは、 前記測定対象面に対する前記光源と前記受光部の位置関係を一定に保ちつつ、前記光源と前記受光部を前記測定対象面に沿って移動させる移動機構と、 前記光源と前記受光部の前記測定対象面に沿った移動距離を検出する移動距離検出手段と、を有することを特徴とする分光分析装置。
IPC (1)：
G01N 21/35
FI (1)：
G01N21/35 Z
F-Term (18)：
2G059AA01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB08 ,  2G059CC02 ,  2G059CC12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059FF01 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK03 ,  2G059LL01 ,  2G059LL04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM12 ,  2G059PP04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (11)
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Cited by examiner (11)
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