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J-GLOBAL ID:201403020909033434

冷凍機の台数制御方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 森 哲也 ,  内藤 嘉昭 ,  田中 秀▲てつ▼
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2009169296
Publication number (International publication number):2011021855
Patent number:5398395
Application date: Jul. 17, 2009
Publication date: Feb. 03, 2011
Claim (excerpt):
【請求項1】 一次側設備としての冷凍機が複数台並列に配置され、前記複数台の冷凍機に対して二次側設備としての熱負荷源が接続されて、前記複数台の冷凍機と前記熱負荷源との間で冷水が循環可能になっている空調システムの、前記複数の冷凍機を増段又は減段して台数制御する冷凍機の台数制御方法において、 前記熱負荷源から前記冷凍機側に戻される冷水が有する熱量である負荷側合計熱量に基づいて設定される前記冷凍機の増段条件及び減段条件を、それぞれ対熱量増段条件及び対熱量減段条件とし、 前記熱負荷源から前記冷凍機側に戻される冷水の流量である負荷側合計流量に基づいて設定される前記冷凍機の増段条件及び減段条件を、それぞれ対流量増段条件及び対流量減段条件とし、 前記対熱量増段条件及び前記対流量増段条件の何れかを満たす場合、前記冷凍機を1台増段し、前記対熱量減段条件及び前記対流量減段条件の全条件を満たす場合、前記冷凍機を1台減段し、 前記対熱量減段条件は、前記対熱量増段条件に対してヒステリシスを有し、 前記対流量減段条件は、前記対流量増段条件に対してヒステリシスを有し、 前記ヒステリシスを実現するものとして予め設定した値を、それぞれ冷凍機減段用ディファレンシャル熱量及び冷凍機減段用ディファレンシャル流量とし、そして、 前記対熱量増段条件としての第1増段条件を、 負荷側合計熱量>現在運転している冷凍機それぞれに設定されている定格熱量の総和 とし、 前記対流量増段条件としての第2増段条件を、 負荷側合計流量>現在運転している冷凍機それぞれに設定されている冷水最大流量の総和 とし、 前記対熱量減段条件としての第1減段条件を、 負荷側合計熱量≦(現在運転している冷凍機それぞれに設定されている定格熱量の総和)-(現在運転している冷凍機のうち、次に減段すると決めてある冷凍機の定格熱量)-(冷凍機減段用ディファレンシャル熱量) とし、 前記対流量減段条件としての第2減段条件を、 負荷側合計流量≦(現在運転している冷凍機それぞれに設定されている冷水最大流量の総和)-(現在運転している冷凍機のうち、次に減段すると決めてある冷凍機の冷水最大流量)-(冷凍機減段用ディファレンシャル流量) とし、 複数の前記対熱量増段条件及び複数の前記対熱量減段条件を基に、冷凍機の台数制御をするものであり、 前記空調システムでは、各冷凍機が冷却塔との間で冷却水を循環させており、 前記冷凍機系統のCOP(Coefficient Of Performance)の最大値を得る冷凍機の冷却負荷率を示す値であって、前記冷凍機の冷却水出口温度と冷水出口温度との差分(以下、温度偏差という。)が小さいほど小さくなる値を冷凍機最適負荷率とし、 前記冷凍機最適負荷率と、前記冷凍機の温度偏差との関係から、前記冷凍機の現在の温度偏差に対応する前記冷凍機最適負荷率の現在値を求め、そして、 前記複数の対熱量増段条件のうちのもう一つの対熱量増段条件としての第3増段条件を、 負荷側合計熱量>((現在運転している冷凍機それぞれに設定されている定格熱量の総和)+(次に増段すると決めてある冷凍機の定格熱量))×(冷凍機最適負荷率の現在値) とし、 前記複数の対熱量減段条件のうちのもう一つの対熱量減段条件としての第3減段条件を、 負荷側合計熱量≦(現在運転している冷凍機それぞれに設定されている定格熱量の総和)×(冷凍機最適負荷率の現在値)-(冷凍機減段用ディファレンシャル熱量) とし、 前記第1増段条件、前記第2増段条件、及び前記第3増段条件の何れかを満たす場合、前記冷凍機を1台増段し、前記第1減段条件、前記第2減段条件、及び前記第3減段条件の全条件を満たす場合、前記冷凍機を1台減段することを特徴とする冷凍機の台数制御方法。
IPC (1):
F24F 11/02 ( 200 6.01)
FI (2):
F24F 11/02 H ,  F24F 11/02 102 L
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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