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J-GLOBAL ID：201403032387014947
フィルム製造方法、フィルム製造プロセスモニタ装置及びフィルム検査方法
Inventor：
,
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：
長谷川 芳樹
, 黒木 義樹
, 近藤 伊知良
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2013053267
Publication number (International publication number)：2014178249
Application date： Mar. 15, 2013
Publication date： Sep. 25, 2014
Summary：
【課題】フィルムの特性をより簡易な方法且つ高精度に把握する。【解決手段】フィルム製造プロセスモニタ装置100を用いたフィルム1の製造方法においては、A方向に搬送されるフィルム1に対して、光源10から近赤外光である広帯域光L1を照射することでフィルム1から出射される拡散反射光L2を受光部30で受光することで、分析部40のスペクトル取得部40aにおいて拡散反射光L2のスペクトルを取得するスペクトル取得工程と、取得された拡散反射光L2のスペクトルからフィルム1に係る物理量を算出する物理量算出工程と、が含まれる。フィルム1の特性を示す物理量をスペクトルの取得によって得ることができるため、フィルムの特性を簡便に把握することができ、スペクトルから例えば複数の情報を取得することもできるため、フィルムの特性をより高精度で把握することができる。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
搬送されるフィルムに対して、近赤外光である広帯域光を照射することで該フィルムから出射される反射光又は透過光のスペクトルを取得するスペクトル取得工程と、
前記スペクトル取得工程において取得された前記スペクトルから前記フィルムに係る物理量を算出する物理量算出工程と、
を含むフィルム製造方法。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (13)：
2G059AA03
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059EE12
, 2G059FF04
, 2G059HH01
, 2G059JJ01
, 2G059KK04
, 4F071AA46
, 4F071BC01
, 4F071BC12
, 4F071BC13
, 4F071BC17
Cited by examiner (3)
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膜厚測定装置、膜厚測定方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2001-363374
Applicant：三菱化学株式会社
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高分子フィルムの厚み測定方法および測定装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平10-243959
Applicant：三井化学株式会社, 東セロ株式会社, 株式会社グランドポリマー
-
塗布状態測定方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2011-185193
Applicant：住友電気工業株式会社
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