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J-GLOBAL ID：201403044975717979

蛍光顕微装置および方法

Inventor： 吉成洋祐
Applicant, Patent owner： 日本電子株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2012203791
Publication number (International publication number)：2014059192
Application date： Sep. 18, 2012
Publication date： Apr. 03, 2014
Summary：

【課題】蛍光計測を通して距離を評価していたFRET法に比べ、長距離情報を導出する。【解決手段】(1)互いに直交した3軸方向から静磁場を合成印加できる電磁石システム、(2)該電磁石システムが発生する静磁場の印加角度を変えながら蛍光体で標識された常磁性ナノ粒子の蛍光検出磁気共鳴スペクトルを測定する蛍光検出磁気共鳴測定部、(3)蛍光検出磁気共鳴スペクトルの蛍光強度の静磁場方向に対する角度依存性から蛍光体と常磁性ナノ粒子の間の距離を求める演算部、を備えた。【選択図】図10

Claim (excerpt)：

(1)互いに直交した3軸方向から静磁場を合成印加できる電磁石システム、 (2)該電磁石システムが発生する静磁場の印加方向を変えながら蛍光体で標識された常磁性微粒子の蛍光検出磁気共鳴スペクトルを測定する蛍光検出磁気共鳴測定部、 (3)蛍光検出磁気共鳴スペクトルの蛍光強度の静磁場方向に対する角度依存性から蛍光体と常磁性微粒子の間の距離を求める演算部、 を備えたことを特徴とする蛍光顕微装置。

IPC (2)：

G01N 21/64 ,  G02B 21/06

FI (3)：

G01N21/64 E ,  G01N21/64 F ,  G02B21/06

F-Term (24)：

2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043DA08 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043FA02 ,  2G043GA07 ,  2G043GB02 ,  2G043GB13 ,  2G043GB16 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043JA02 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01 ,  2H052AA09 ,  2H052AB01 ,  2H052AB14 ,  2H052AC04 ,  2H052AC27 ,  2H052AC34 ,  2H052AD16 ,  2H052AF02 ,  2H052AF11

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 蛍光顕微鏡装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2010-109527   Applicant：国立大学法人京都大学, 日本電子株式会社