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J-GLOBAL ID：201403048431460740

変異導入遺伝子作製方法

Inventor：
廣瀬 伸一

About 廣瀬 伸一

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弟子丸 正伸

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荒木 喜美

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Applicant, Patent owner：
学校法人福岡大学

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国立大学法人 熊本大学

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Agent (1)： 松尾 憲一郎
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2008273446
Publication number (International publication number)：2010099006
Patent number：5481661
Application date： Oct. 23, 2008
Publication date： May. 06, 2010
Claim (excerpt)：
【請求項1】 標的組換えベクター(14)の標的組換えカセット(40)が導入された標的組換え遺伝子(12)と、変異導入ベクター(16)とのCreリコンビナーゼによる組換えにより標的変異導入遺伝子(10)を得ることからなる標的変異導入遺伝子作製方法であって、 前記標的組換え遺伝子(12)が、標的組換えDNA配列部分(25)を有すること; 前記標的組換えベクター(14)が、5’側第2lox配列(42a)と3’側第2lox配列(42b)とからなる第2lox配列因子(42)によってその両側が挟まれている標的組換えDNA配列部分(25)を有する標的組換えカセット(40)を含むこと; 前記5’側第2変異lox配列(42a)がlox71配列であり、前記3’側第2変異lox配列(42b)がlox2272配列であること; 前記標的組換え遺伝子(12)と前記標的組換えベクター(14)との組換えによって、前記標的組換えベクター(14)の標的組換えカセット(40)が、前記標的組換え遺伝子(12)に導入されること; 前記標的組換えカセット(40)が導入された前記組換え標的変異遺伝子と、変異導入ベクター(16)とのCre組換えにより、前記変異導入ベクター(16)の可変式変異導入カセット(50)が、前記組換え標的変異遺伝子の前記標的組換えカセット(40)と組換わり前記標的変異導入遺伝子(10)に組換わること; 前記変異導入ベクター(16)の可変式変異導入カセット(50)は、前記標的組換えカセット(40)の標的組換えDNA配列部分(25)に対応する変異を有する標的変異DNA配列部分(37)を有すること; 前記標的変異DNA配列部分(37)は、5’側第3lox配列(52a)と3’側第3lox配列(52b)とからなる第3lox配列因子(52)によってその両側が挟まれていること; 前記5’側第3変異lox配列(52a)がloxKMR3配列であり、前記3’側第3変異lox配列(52b)がlox2272配列であること; 前記Cre組換えにより得られる前記標的変異導入遺伝子(10)は、変異導入カセット(30)を有すること; 前記変異導入カセット(30)が、前記標的変異DNA配列部分(37)と、その両側を挟んでいる5’側第1lox配列(32a)と、3’側第1lox配列(32b)とからなる第1lox配列因子(32)を含んでいること; 前記5’側第1lox配列(32a)が、前記5’側第2lox配列(42a)と5’側第3lox配列(52a)と組換えによる変異を有するlox71/KMR3配列であり、また、前記3’側第1lox配列(32b)が、前記3’側第2lox配列(42b)と3’側第3lox配列(52b)と組換えによる変異を有するlox2272配列であること; を特徴とする標的変異導入遺伝子作製方法。
IPC (3)：
C12N 15/09 ( 200 6.01) ,  A01K 67/027 ( 200 6.01) ,  C12N 5/10 ( 200 6.01)
FI (3)：
C12N 15/00 ZNA A ,  A01K 67/027 ,  C12N 5/00 102
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)
  • ノックアウト動物
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-157567   Applicant：科学技術振興事業団, 井出博之, 山村研一, 荒木喜美
  • 細胞及び細胞へのDNA導入方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-160013   Applicant：財団法人化学物質評価研究機構
Article cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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