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J-GLOBAL ID：201403052034094514

表面粗さ計測装置及び計測方法

Inventor：
井上 文宏

About 井上 文宏

, 
沼崎 孝義

About 沼崎 孝義


Applicant, Patent owner：
株式会社大林組

About 株式会社大林組


Agent (1)： 一色国際特許業務法人
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2012145567
Publication number (International publication number)：2014010001
Application date： Jun. 28, 2012
Publication date： Jan. 20, 2014
Summary：
【課題】 コンクリート構造物の表面粗さを容易に計測することができるコンパクトな装置を提供する。【解決手段】 コンクリート構造物30の表面粗さを計測する表面粗さ計測装置1であって、前記コンクリート構造物30の表面までの距離を計測する距離センサ20と、該距離センサ20を水平方向に移動させるリニアアクチュエータ10と、前記距離センサ20及び前記リニアアクチュエータ10を円周方向に移動させるロータリーアクチュエータ3と、前記距離センサ20、前記リニアアクチュエータ10、及び前記ロータリーアクチュエータ3を制御する制御手段25とを備える。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
コンクリート構造物の表面粗さを計測する表面粗さ計測装置であって、 前記コンクリート構造物の表面までの距離を計測する距離センサと、該距離センサを水平方向に移動させるリニアアクチュエータと、前記距離センサ及び前記リニアアクチュエータを円周方向に移動させるロータリーアクチュエータと、前記距離センサ、前記リニアアクチュエータ、及び前記ロータリーアクチュエータを制御する制御手段とを備えていることを特徴とする表面粗さ計測装置。
IPC (3)：
G01B 11/30 ,  E04G 21/02 ,  G01B 21/30
FI (3)：
G01B11/30 102 ,  E04G21/02 103Z ,  G01B21/30 102
F-Term (25)：
2E172AA05 ,  2E172DD00 ,  2E172HA03 ,  2F065AA06 ,  2F065AA50 ,  2F065CC14 ,  2F065DD02 ,  2F065DD06 ,  2F065GG04 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ09 ,  2F065KK01 ,  2F065MM07 ,  2F065MM08 ,  2F065PP22 ,  2F069AA02 ,  2F069AA43 ,  2F069AA57 ,  2F069BB40 ,  2F069DD27 ,  2F069GG01 ,  2F069GG07 ,  2F069GG09 ,  2F069GG62 ,  2F069JJ04
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (10)
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