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J-GLOBAL ID:201403065693179653
人工皮膚および弾性歪みセンサ
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (12):
清水 初志
, 春名 雅夫
, 山口 裕孝
, 刑部 俊
, 井上 隆一
, 佐藤 利光
, 新見 浩一
, 小林 智彦
, 渡邉 伸一
, 大関 雅人
, 五十嵐 義弘
, 川本 和弥
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2014532071
Publication number (International publication number):2014528079
Application date: Sep. 24, 2012
Publication date: Oct. 23, 2014
Summary:
人工皮膚の下にある支持構造体の動きを検出および追跡するために、該支持構造体による屈曲を検知することができる弾性歪みセンサを該皮膚に組み込むことができる。弾性基板材料における2つまたはそれ以上のチャネルを導電性液体で満たすことによって、単方向性の該弾性歪みセンサを形成することができる。該チャネルの端部において、ループポートは、蛇行するチャネルを形成するように該チャネルを接続している。該チャネルは歪みの方向に沿って延在し、かつ、ループ部は、歪みの方向に対して横方向に十分に大きい断面積を有し、該センサは単方向性である。該蛇行するチャネルの端部において抵抗を測定し、かつ、該センサにおける歪みを決定するために該抵抗を用いることができる。該センサの感度を増大させるために、さらなるチャネルを追加することができる。該センサの感度を増大させるために、該センサを互いの上部に積み重ねることができる。他の態様では、異なる方向に向いた2つのセンサを、互いの上部に積み重ね、かつ互いに接着させて、双方向センサを形成することができる。螺旋または同心リングの形状に形成された第3のセンサを、上部に積み重ね、かつ接触または圧力の検知のために用いて、3次元センサを形成することができる。高度な検知を提供するために、該3次元センサを人工皮膚に組み込むことができる。
Claim (excerpt):
各チャネルが、第1の端部から第2の端部まで延在し、歪み軸に実質的に平行である、2つまたはそれ以上のチャネルを有する弾性材料と、
第1のチャネルの該第1の端部を第2のチャネルの該第1の端部に接続し、該歪み軸を横切る軸に沿って実質的に大きい断面積を有する、少なくとも1つのループ部と、
該第1のチャネルの少なくとも該第2の端部から該ループ部を通って該第2のチャネルの該第2の端部まで連続的に延在する、導電性液体と
を備える、該歪み軸に沿った歪みを検知するための弾性歪みセンサ。
IPC (3):
G01L 1/20
, B25J 19/02
, G01L 5/16
FI (3):
G01L1/20 Z
, B25J19/02
, G01L5/16
F-Term (9):
2F051AA17
, 2F051AB02
, 2F051BA07
, 2F051DA03
, 3C707KS11
, 3C707KS31
, 3C707KV04
, 3C707KW01
, 3C707KW07
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
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コンクリート構造部材のひずみ測定方法及び現有応力測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-262445
Applicant:株式会社銭高組, 前田建設工業株式会社, 日本国土開発株式会社, 株式会社コミヤマ工業, 株式会社福田組, 平嶋健一
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特開平1-103281
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ひずみ測定法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-347312
Applicant:西元敬二
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特許第7854173号
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Cited by examiner (4)
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コンクリート構造部材のひずみ測定方法及び現有応力測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-262445
Applicant:株式会社銭高組, 前田建設工業株式会社, 日本国土開発株式会社, 株式会社コミヤマ工業, 株式会社福田組, 平嶋健一
-
特開平1-103281
-
特開平1-103281
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ひずみ測定法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-347312
Applicant:西元敬二
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Article cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
Cited by examiner (2)
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