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J-GLOBAL ID:201403069731564723

照射特性を調整可能にして少なくとも1つの眼における少なくとも1つのパラメータを捕捉する光学的測定装置及び方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 杉村 憲司 ,  福尾 誠 ,  甲原 秀俊
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2013558450
Publication number (International publication number):2014509533
Application date: Mar. 15, 2012
Publication date: Apr. 21, 2014
Summary:
本発明は、光学的測定装置(1)を着用する被検者(31)の少なくとも一方の眼(10l,10r)における少なくとも1つのパラメータを捕捉する光学的測定装置(1)に関し、この装置は、被検者(31)の頭部に光学的測定装置(1)を固定するよう構成したフレーム(4)と、少なくとも一方の眼(10l,10r)における少なくとも1つのパラメータを光学的に捕捉するよう構成した少なくとも1つの捕捉ユニット(3l,3r)と、少なくとも一方の眼(10l,10r)を照射する照射ユニット(9,21,22)とを備え、照射ユニット(9,21,22)により照射特性を調整可能とする。【選択図】図2
Claim (excerpt):
光学的測定装置(1)を着用する被検者(31)の少なくとも一方の眼(10l,10r)における少なくとも1つのパラメータを捕捉する光学的測定装置(1)であって、 前記被検者(31)の頭部に前記光学的測定装置(1)を固定するよう構成したフレーム(4)と、 前記少なくとも一方の眼(10l,10r)における少なくとも1つのパラメータを光学的に捕捉するよう構成した少なくとも1つの捕捉ユニット(3l,3r)と、 前記少なくとも一方の眼(10l,10r)を照射する照射ユニット(9,21,22)とを備えた、該光学的測定装置において、 前記照射ユニット(9,21,22)により照射特性を調整可能にした、ことを特徴とする光学的測定装置。
IPC (5):
A61B 3/113 ,  A61B 3/11 ,  A61B 3/10 ,  G02C 11/00 ,  G02C 13/00
FI (5):
A61B3/10 B ,  A61B3/10 A ,  A61B3/10 H ,  G02C11/00 ,  G02C13/00
F-Term (2):
2H006CA00 ,  2H006DA05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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