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J-GLOBAL ID:201403073130639820

原子干渉計および原子干渉測定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 山川 政樹 ,  山川 茂樹 ,  小池 勇三
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2008250439
Publication number (International publication number):2010076078
Patent number:5350727
Application date: Sep. 29, 2008
Publication date: Apr. 08, 2010
Claim (excerpt):
【請求項1】 基板の表面に形成されて超伝導電流が流れる超伝導閉回路から構成され、前記基板の上で隣り合って前記基板の平面方向で互いに対向する対向領域を備えて近設された第1原子導波路および第2原子導波路と、 前記対向領域の一端側の少なくとも前記第1原子導波路に設けられ、前記対向領域が延在する方向に対して異なる方向に延在する捕捉部導波路を備える原子捕捉領域と、 前記対向領域の他端側の少なくとも前記第2原子導波路に設けられた原子観測領域と、 前記対向領域の前記原子捕捉領域および前記原子観測領域の間に設けられた前記第1原子導波路および前記第2原子導波路からなる干渉領域と、 前記第1原子導波路および第2原子導波路を貫く互いに異なる向きの第1磁場および第2磁場を印加する電流駆動磁場発生手段と、 前記捕捉部導波路が延在する方向に垂直な第3磁場を前記捕捉部導波路に対して印加する捕捉用磁場発生手段と、 前記対向領域が延在する方向に垂直な第4磁場を前記対向領域の前記第1原子導波路および前記第2原子導波路に対して印加する導波用磁場発生手段と、 前記原子観測領域を導波する原子を観測する原子観測手段と を少なくとも備え、 前記干渉領域は、前記第1原子導波路および前記第2原子導波路が近接する2つの近接領域と、これら2つの近接領域の間で前記第1原子導波路および前記第2原子導波路が離間している分岐領域とを備え、 超伝導電流が流れる前記第1原子導波路および前記第2原子導波路に前記第4磁場が印加されている状態で、 前記近接領域では、前記基板の上側の前記第1原子導波路および前記第2原子導波路の中央部上部に1つの磁場の極小点が形成され、 前記分岐領域では、前記基板の上側の前記第1原子導波路の上部および前記第2原子導波路の上部の各々に磁場の極小点が形成され、 前記対向領域が延在する方向は、一方の前記近接領域から他方の前記近接領域にかけての方向であり、 前記原子観測領域の側は前記原子捕捉領域の側より地面に近くなるように傾いている ことを特徴とする原子干渉計。
IPC (2):
B82B 3/00 ( 200 6.01) ,  H01L 39/00 ( 200 6.01)
FI (2):
B82B 3/00 ,  H01L 39/00 G
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2) Cited by examiner (2)

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