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J-GLOBAL ID：201403084213597510

物理量制御装置、物理量制御方法及び物理量制御プログラム

Inventor： 石橋 政三 ,  伊藤 孝徳 ,  伊藤 菊一 ,  長田 洋
Applicant, Patent owner： 株式会社チノー ,  国立大学法人岩手大学
Agent (2)： 杉村 憲司 ,  英 貢
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2009168548
Publication number (International publication number)：2010257436
Patent number：5464326
Application date： Jul. 17, 2009
Publication date： Nov. 11, 2010
Claim (excerpt)：

【請求項1】 フィードバック制御によって制御対象の物理量を目標値に制御する物理量制御装置であって、 所定の制御周期毎に物理量センサーによって測定された制御対象の各物理量から決定される第1の操作量をザゼンソウ型アルゴリズムに基づいて演算する第1の制御部と、 前記測定された制御対象の物理量と前記目標値とから決定される第2の操作量を演算する第2の制御部と、 演算された前記第1の操作量と前記第2の操作量とを並列処理して第3の操作量を決定する混合器と、 前記第3の操作量に応じて前記制御対象の物理量を前記目標値に制御する物理量制御部と、 を備えることを特徴とする物理量制御装置。

IPC (2)：

G05B 13/02 ( 200 6.01) ,  G05D 23/19 ( 200 6.01)

FI (2)：

G05B 13/02 B ,  G05D 23/19 J

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 特開平2-098701
  
• 特開平3-123902
  
• 制御システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-114671   Applicant：株式会社東芝

Cited by examiner (3)

• 特開平2-098701
  
• 特開平3-123902
  
• 制御システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-114671   Applicant：株式会社東芝