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J-GLOBAL ID:201403093733702781
パルス波高分析器およびこれを備える核医学診断装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
杉谷 勉
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2011533963
Patent number:5531021
Application date: Oct. 01, 2009
Claim (excerpt):
【請求項1】 放射線の入射による発光を変換して得られる放射線パルスの波高値を放射線パルスが所定の閾値を上回るタイミングから前記放射線パルスが減衰して所定の閾値を下回るタイミングまでの時間を測定することにより計測し、前記放射線パルスの波高値を分析して必要な波高値の放射線パルスのみを取り出すパルス波高分析器であって、前記放射線パルスが前記所定の閾値を上回るタイミングに同期して前記所定の閾値を増加させ、前記増加後の閾値を下回るタイミングまでの時間を測定する閾値増加手段を備えることを特徴とするパルス波高分析器。
IPC (2):
G01T 1/36 ( 200 6.01)
, G01T 1/161 ( 200 6.01)
FI (2):
G01T 1/36 A
, G01T 1/161 C
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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閾値決定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-067144
Applicant:浜松ホトニクス株式会社
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放射線検出器及び放射線検出方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-081268
Applicant:浜松ホトニクス株式会社
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特開昭63-171387
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特開昭62-211578
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スペクトルデータ収集装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-255218
Applicant:日本電子株式会社
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Article cited by the Patent:
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