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J-GLOBAL ID：201403095943218516

熱放射光源を用いた放射温度計の校正方法

Inventor：
渡辺 博道

About 渡辺 博道

, 
石井 順太郎

About 石井 順太郎


Applicant, Patent owner：
独立行政法人産業技術総合研究所

About 独立行政法人産業技術総合研究所


Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2011013815
Publication number (International publication number)：2012154777
Patent number：5633071
Application date： Jan. 26, 2011
Publication date： Aug. 16, 2012
Claim (excerpt)：
【請求項1】炭素材料からなる均質かつ厚さ及び断面積が均一な板の全表面に炭素のナノ構造体を構築することで表面の放射率を高めかつ表面の放射率を均一にした板に、電流を流して直接通電加熱を行い板全体の温度を均一に所望の温度に保持することにより、前記板の表裏2つの平面を所望の温度における黒体面として使用し、前記表裏2つの平面の一方の平面に既に校正済みの標準放射温度計を正対させ、前記表裏2つの平面の他方の平面に被校正放射温度計もしくはサーモグラフィを正対させ、両者の測定値を比較することで校正を実行する校正方法であって、 前記板に直列に接続したバッテリー又はコンデンサーから大電流を流して前記黒体面を高速自己通電加熱することにより室温から所望の温度に瞬時に到達させ、 前記校正済みの標準放射温度計で前記一方の黒体面が所望の温度に到達したことを検知した後、電流の高速フィードバック制御により黒体面の温度を一定に保持し、黒体面の温度分布が伝導熱損失により悪化する前の黒体面全体が均一に所望な温度に保持される短時間内に、前記一方の平面に正対させた既に校正済みの標準放射温度計と、前記他方の平面に正対させた被校正放射温度計もしくはサーモグラフィとの両者の測定値を比較することで校正を実行することを特徴とする放射温度計もしくはサーモグラフィの校正方法。
IPC (1)：
G01J 5/00 ( 200 6.01)
FI (1)：
G01J 5/00 E
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (5)
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