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J-GLOBAL ID：200903007847623063

熱物性測定方法及び装置

Inventor：
渡辺 博道

About 渡辺 博道

, 
馬場 哲也

About 馬場 哲也


Applicant, Patent owner：
独立行政法人産業技術総合研究所

About 独立行政法人産業技術総合研究所


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004056747
Publication number (International publication number)：2005249427
Application date： Mar. 01, 2004
Publication date： Sep. 15, 2005
Summary：
【課題】高温物質の物性値を測定するに際して、比熱容量、半球全放射率、熱伝導率、熱拡散率等の物性値を同時に測定可能とする。 【解決手段】大容量コンデンサー2に蓄積した電力を、電界効果トランジスタを用いた電流スイッチ3をONすることにより、標準抵抗4を介して導電性の試料5に供給し、短時間で高温にする。そのときの試料5の表面温度を放射温度計7によって測定し、制御装置12はその温度が所定の温度になるように電流スイッチ3の作動を調節し、試料5を流れる電流の大きさを制御する。この所定温度加熱期間にパルスYAGレーザ6からパルス光を試料5の裏面に照射し、表面の温度変化から試料5の熱拡散率を測定する。また、測定された熱拡散率と通電加熱時に試料に供給した電力と試料の温度変化を計測して試料の体積熱容量を求め、それらの値と別途測定した密度から熱伝導率を算出する。同時に半球全放射率も測定する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
導電性試料を通電加熱し、前記通電加熱された試料に光を照射し、前記光照射による温度変化を計測し、前記温度変化から試料の熱拡散率を測定することを特徴とする熱物性測定方法。
IPC (1)：
G01N25/18
FI (1)：
G01N25/18 H
F-Term (13)：
2G040AB08 ,  2G040AB09 ,  2G040BA27 ,  2G040CA02 ,  2G040CA23 ,  2G040DA05 ,  2G040DA13 ,  2G040EA02 ,  2G040EA06 ,  2G040EB02 ,  2G040EC02 ,  2G040EC04 ,  2G040HA16
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (12)
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Cited by examiner (11)
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