計測装置、計測システム、計測方法および計測プログラム

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：古谷史旺 , 森俊秀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2013066607
Publication number (International publication number)：2014190835
Application date： Mar. 27, 2013
Publication date： Oct. 06, 2014
Summary：

【課題】従来よりも容易に、空間における線量率などの特徴量の空間的な分布を網羅的に認識可能にする技術を提供する。【解決手段】移動体とともに移動し、移動体から所定の範囲内の空間における所定の特徴量を測定するセンサと、移動体が第1の地点から第2の地点まで移動する間に、センサで得られる測定値を積算する積算部と、積算部によって得られた積算結果を、第1の地点と第2の地点との間の移動にかかった時間で除することで、第1の地点と第2の地点との間の移動経路における、単位時間当たりの特徴量を求める算出部とを有する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

移動体とともに移動し、前記移動体から所定の範囲内の空間における所定の特徴量を測定するセンサと、前記移動体が第1の地点から第2の地点まで移動する間に、前記センサで得られる測定値を積算する積算部と、前記積算部によって得られた積算結果を、前記第1の地点と前記第2の地点との間の移動にかかった時間で除することで、前記第1の地点と前記第2の地点との間の移動経路における、単位時間当たりの前記特徴量を求める算出部とを備えたことを特徴とする計測装置。

IPC (2)：

G01T 1/16 , G01T 1/17

FI (2)：

G01T1/16 A , G01T1/17 J

F-Term (7)：

2G188AA10 , 2G188CC28 , 2G188EE07 , 2G188EE08 , 2G188EE14 , 2G188EE25 , 2G188GG05

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

ゲート装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-296124 Applicant：松下電器産業株式会社
放射線量率の測定方法及び放射線量率マップの作製方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2011-168036 Applicant：国立大学法人京都大学
測定データ整形方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-080535 Applicant：株式会社ミツトヨ

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