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J-GLOBAL ID：201502204690209172   Reference number：15A0658634

Direct observation of the thickness effect on critical crack tip opening displacement in freestanding copper submicron-films by in situ electron microscopy fracture toughness testing

その場電子顕微鏡破壊靭性試験による自立銅サブミクロン膜における限界亀裂開口変位に及ぼす厚さの影響の直接観察

Author (4)： HIRAKATA Hiroyuki (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  TAKEDA Yuki (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KONDO Toshiyuki (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  MINOSHIMA Kohji (Osaka Univ., Osaka, JPN)
Material： International Journal of Fracture  (Int J Fract)
Volume： 192  Issue： 2  Page： 203-216  Publication year： Apr. 2015 
JST Material Number： B0696A  ISSN： 0376-9429  CODEN： IJFRAP  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： Copper ,  *metallic thin film ,  *fracture toughness ,  electron microscope ,  *crack opening displacement ,  film thickness ,  size effect ,  elasto-plasticity ,  mechanical property

JST classification (2)： Metallic thin films  (BK14030T) ,  Metallic materials  (HC04020L)

Terms in the title (8)： 電子顕微鏡 ,  破壊靭性試験 ,  自立 ,  銅 ,  サブ ,  限界 ,  亀裂開口変位 ,  厚さ