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J-GLOBAL ID：201502208940770270   Reference number：15A0890620

Interplay between Switching Driven by the Tunneling Current and Atomic Force of a Bistable Four-Atom Si Quantum Dot

双安定四原子Si量子ドットのトンネリング電流と原子間力に駆動されたスイッチング間の相互作用

Author (12)： YAMAZAKI Shiro (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  MAEDA Keisuke (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  SUGIMOTO Yoshiaki (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  ABE Masayuki (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  ZOBAC Vladimir (Inst. of Physics, Acad. of Sci. of the Czech Republic, Prague, CZE) ,  POU Pablo (Universidad Autonoma de Madrid, Madrid, ESP) ,  RODRIGO Lucia (Universidad Autonoma de Madrid, Madrid, ESP) ,  MUTOMBO Pingo (Inst. of Physics, Acad. of Sci. of the Czech Republic, Prague, CZE) ,  PEREZ Ruben (Universidad Autonoma de Madrid, Madrid, ESP) ,  JELINEK Pavel (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  JELINEK Pavel (Inst. of Physics, Acad. of Sci. of the Czech Republic, Prague, CZE) ,  MORITA Seizo (Osaka Univ., Osaka, JPN)
Material： Nano Letters  (Nano Lett)
Volume： 15  Issue： 7  Page： 4356-4363  Publication year： Jul. 2015 
JST Material Number： W1332A  ISSN： 1530-6984  CODEN： NALEFD  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： crystal orientation ,  operation (processing) ,  scanning tunneling microscope ,  atomic force microscope ,  *atom ,  *tetramer ,  *switching ,  *quantum dot ,  *bistability ,  electric current ,  tunnel effect ,  force ,  silicon ,  atomic force ,  Silicon(111)
Semi thesaurus term： *buckling(neutron density) ,  AFM (microscope) ,  Si(111) ,  STM (microscope) ,  *シリコン量子ドット ,  atom manipulation

JST classification (2)： Atomic interactions  (BH04020U) ,  Scattering of electrons by atomes  (BH04030F)

Terms in the title (8)： 双安定 ,  原子 ,  Si ,  量子ドット ,  トンネリング電流 ,  原子間力 ,  スイッチング ,  相互作用