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J-GLOBAL ID：201502215862817245   Reference number：15A1167463

Typical Case Oriented Design Approach by Timing Error Prediction to Tolerate Process Variability

プロセス変動に耐えるためのタイミングエラー予測による典型ケース指向設計アプローチ

Author (3)： YANO Ken (Fukuoka Univ.) ,  YANO Ken (ATR) ,  SATO Toshinori (Fukuoka Univ.)
Material： 福岡大学工学集報  (Fukuoka University Review of Technological Sciences)
Issue： 95  Page： 7-16  Publication year： Sep. 30, 2015 
JST Material Number： S0905A  ISSN： 0285-2799  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *fluctuation and variation ,  *error(mistake) ,  *forecast ,  technology ,  LSI ,  *semiconductor process ,  submicron process ,  *bistable circuit ,  evaluation ,  RISC machine ,  consumed electric power ,  area
Semi thesaurus term： *timing error ,  chip area ,  deep submicron process ,  parameter variation ,  *process variation ,  stability margin ,  experimental evaluation ,  *design approach ,  *generation forecast

JST classification (2)： Semiconductor integrated circuit  (NC03162T) ,  Other electronic circuits  (NC05090X)

Terms in the title (4)： プロセス変動 ,  タイミングエラー ,  予測 ,  設計アプローチ