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J-GLOBAL ID：201502216252278977   Reference number：15A1057768

Contrast analysis of near-field scanning microscopy using a metal slit probe at millimeter wavelengths

ミリメートル波長の金属スリットプローブを用いた近接場走査電子顕微鏡のコントラスト解析

Author (4)： NOZOKIDO Tatsuo (Graduate School of Sci. and Engineering for Rsesearch, Univ. of Toyama, 3190 Gofuku, Toyama 930-8555, JPN) ,  ISHINO Manabu (Graduate School of Sci. and Engineering for Rsesearch, Univ. of Toyama, 3190 Gofuku, Toyama 930-8555, JPN) ,  SETO Ryosuke (Graduate School of Sci. and Engineering for Rsesearch, Univ. of Toyama, 3190 Gofuku, Toyama 930-8555, JPN) ,  BAE Jongsuck (Dep. of Engineering Physics, Electronics, and Mechanics, Nagoya Inst. of Technol., Gokiso, Showa-ku, Nagoya 466-8555 ...)
Material： Journal of Applied Physics  (Journal of General Physics and its Application to Other Sciences and to Industry)
Volume： 118  Issue： 11  Page： 114905-114905-8  Publication year： Sep. 21, 2015 
JST Material Number： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： EHF wave ,  *scanning probe microscope ,  scanning optical microscope ,  waveguide ,  lamellar structure ,  dielectrics ,  finite element method ,  characteristic impedance ,  slit ,  *probe ,  *contrast ,  electromagnetic field ,  reflectivity ,  admittance ,  *near field optical microscope
Semi thesaurus term： *near-field scanning optical microscopy ,  millimetric wave

JST classification (2)： Microscopy determination of structures  (BK01040E) ,  Electron and ion microscopes  (BD02050B)

Terms in the title (7)： 波長 ,  スリット ,  プローブ ,  近接場 ,  走査電子顕微鏡 ,  コントラスト ,  解析