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J-GLOBAL ID：201502237233057249   Reference number：15A0459326

光通信 電子線ホログラフィとローレンツ顕微鏡を用いた半導体レーザの解析

Author (4)： SASAKI HIROKAZU (古河電気工業) ,  OTOMO SHIN'YA (古河電気工業) ,  MINATO RYUICHIRO (古河電気工業) ,  YOSHIDA JUNJI (古河電気工業)
Material： 古河電工時報(Web)
Issue： 134  Page： 33-39 (WEB ONLY)  Publication year： Jan. 2015 
JST Material Number： U0003A  ISSN： 1348-1789  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： optical communication ,  *Holography ,  *gallium arsenide ,  *semiconductor laser ,  PN junction ,  dopant ,  impurity concentration ,  *Lorentz force ,  *electron microscopy ,  electric potential distribution ,  interference fringe ,  space resolving power ,  transmission electron microscope ,  electron beam holography ,  Lorentz microscope

JST classification (2)： Microscopy determination of structures  (BK01040E) ,  Semiconductor lasers  (BD04070L)

Reference (32)：

• F. Iwase, Y. Nakamura, and S. Furuya: “Secondary electron emission from Si-implanted GaAs”, Appl. Phys. Lett., 64(1994), 1404.
• 工藤政都, 境悠治, 市ノ川竹男: “走査型オージェ電子顕微鏡による仕事関数の測定とその応用”, J. Surf. Anal., 7(2000), 188.
• A. Erickson, L. Sadwick, G. Neubauer, J. Kopanski, D. Adderton and M. Rogers: “Quantitative scanning capacitance microscopy analysis of two-dimensional dopant concentrations at nanoscale dimensions”, J. Electronic Materials, 25(1996),301.
• 一般財団法人ファインセラミックスセンター; http://www.jfcc. or.jp/( 参照日 2014年11月11日)
• D. Gabor: “A new microscopic principle”, Nature, 161(1948),777.

Terms in the title (5)： 光通信 ,  電子線ホログラフィ ,  ローレンツ顕微鏡 ,  半導体レーザ ,  解析