Art

J-GLOBAL ID：201502247746112895   Reference number：15A0674785

Permeability Measurements of Very Thin Magnetic Film Using a Flexible Microstrip-Line-Type Probe

フレキシブルなマイクロストリップライン型プローブを用いた極薄磁性膜の透磁率測定

Author (7)： KUSUNOKI K. (Sendai National Coll. of Technol.) ,  YABUKAMI S. (Tohoku Gakuin Univ.) ,  OZAWA T. (Tohoku Gakuin Univ.) ,  UETAKE H. (Tohoku Gakuin Univ.) ,  YAMADA H. (Sendai National Coll. of Technol.) ,  MIYAZAWA Y. (Toei Scientific Industrial Co. Ltd) ,  SHIMADA Y. (Graduate School of Engineering, Tohoku Univ.)
Material： Journal of the Magnetics Society of Japan  (J Magn Soc Jpn)
Volume： 39  Issue： 3  Page： 111-115 (J-STAGE)  Publication year： 2015 
JST Material Number： Z0944A  ISSN： 1882-2924  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *microstrip line ,  flexibility ,  *magnetic thin film ,  ultrathin film ,  *magnetic permeability ,  *measurement ,  *probe ,  high sensitivity ,  substrate (plate) ,  polyimide ,  optimization ,  Newton-Raphson method ,  *amorphous alloy ,  *cobalt base alloy ,  niobium containing alloy ,  zirconium containing alloy ,  metallic thin film ,  eddy current ,  SN ratio ,  modification
Semi thesaurus term： microstripline

JST classification (2)： Measuring techniques and equipments of magnetic materials  (BM06030I) ,  Random magnetic properties of metals  (BM06082T)

Reference (10)：

• 1) P. A. Calcagno, D. A. Thompson: Rev. Sci. Instrum., 46, 904 (1975).
• 2) M. Yamaguchi, S. Yabukami and K.I. Arai: IEEE Trans. Magn., 32, 4941 (1996).
• 3) H. B. Weir: Proc IEEE., 62, 33 (1975).
• 4) G. Counil, Joo-Von Kim, T. Devolder, C. Chappert, K. Shigeto and Y. Otani, J. Appl. Phys. 95, 5646 (2004).
• 5) T. Kimura, S. Yabukami, T. Ozawa, Y. Miyazawa, H. Kenju, Y. Shimada: J. Magn. Soc. Jpn. 38, pp. 87-91 (2014).

Terms in the title (5)： マイクロストリップライン ,  プローブ ,  極 ,  磁性膜 ,  透磁率測定