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J-GLOBAL ID：201502252143974411   Reference number：15A0207613

Label-Free Measurement of Cell-Electrode Cleft Gap Distance with High Spatial Resolution Surface Plasmon Microscopy

高空間分解能の表面プラズモン顕微鏡による細胞-電極分裂ギャップ距離の無標識測定

Author (4)： TOMA Koji (Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, DEU) ,  TOMA Koji (Muroran Inst. of Technol., Hokkaido, JPN) ,  KANO Hiroshi (Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, DEU) ,  OFFENHAEUSSER Andreas (Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, DEU)
Material： ACS Nano
Volume： 8  Issue： 12  Page： 12612-12619  Publication year： Dec. 2014 
JST Material Number： W2326A  ISSN： 1936-0851  CODEN： ANCAC3  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： space resolving power ,  *surface plasmon ,  *optical microscope ,  *cell ,  electrode ,  gap ,  distance ,  labeling method ,  measurement ,  gold ,  *interface(surface) ,  real time processing ,  area ,  visualization ,  cell adhesion ,  stimulation ,  protein ,  peptide ,  distribution ,  morphology(form)
Semi thesaurus term： gap ,  high spatial resolution ,  large area ,  inhomogeneous distribution ,  label-free

JST classification (2)： Solid-state plasmas  (BM02160W) ,  Optical instruments and techniques in general  (BD07010S)

Terms in the title (6)： 高空間分解能 ,  表面プラズモン ,  顕微鏡 ,  細胞 ,  ギャップ ,  無標識