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J-GLOBAL ID：201502291329503015   Reference number：15A0201689

Microscopic heterodyne interferometry for determination of electron density in high-pressure microplasma

高圧マイクロプラズマ中の電子密度決定のための微視的ヘテロダイン干渉計測

Author (5)： URABE Keiichiro (Univ. Tokyo, Chiba, JPN) ,  URABE Keiichiro (Japan Soc. for the Promotion of Sci., Tokyo, JPN) ,  MUNEOKA Hitoshi (Univ. Tokyo, Chiba, JPN) ,  STAUSS Sven (Univ. Tokyo, Chiba, JPN) ,  TERASHIMA Kazuo (Univ. Tokyo, Chiba, JPN)
Material： Plasma Sources Science and Technology  (Plasma Sources Sci Technol)
Volume： 23  Issue： 6  Page： 064007,1-9  Publication year： Dec. 2014 
JST Material Number： W0479A  ISSN： 0963-0252  CODEN： PSTEEU  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *plasma diagnostics ,  *Interferometry ,  *electron density ,  *plasma ,  heterodyne reception ,  laser beam ,  phase shift ,  *micro plasma
Semi thesaurus term： *ヘテロダイン干渉計測

JST classification (1)： Plasma diagnostics  (BJ02090L)

Terms in the title (5)： 高圧 ,  マイクロプラズマ ,  電子密度 ,  ヘテロダイン ,  干渉計測