半導体放射線測定器

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：高田幸彦
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2011164392
Publication number (International publication number)：2013029361
Patent number：5761794
Application date： Jul. 27, 2011
Publication date： Feb. 07, 2013
Claim (excerpt)：

【請求項1】放射線を受けて微小信号を出力する放射線センサー素子と、該放射線センサー素子からの出力信号を増幅する増幅器と、該増幅器によって増幅された前記出力信号の波高を、第一の弁別レベルを基準として弁別する波高弁別器と、該波高弁別器からの出力パルス信号を計数する第一のカウンタを有し、該第一のカウンタの計数値を用いて所望の処理を行う演算処理装置を備えた半導体放射線測定器において、前記演算処理装置はさらに第二のカウンタを有し、該第二のカウンタと前記増幅器の間に直列に、その抵抗値が前記波高弁別器の第一の弁別レベルよりも大きな第二の弁別レベルに設定されている弁別レベル調整用可変抵抗が接続されており、前記第二のカウンタの入力部がロジック信号の入力を判定するための閾電圧を有しており、該入力部に直列に接続された前記弁別レベル調整用可変抵抗と前記第二のカウンタの前記入力部の内部抵抗との比で前記増幅器の信号を減衰させることにより、ロジック信号判定用の前記閾電圧を第二の波高弁別レベルとして利用し、前記演算処理装置は、前記第一のカウンタの計数値からγ線の線量を測定し、前記第一のカウンタと前記第二のカウンタが同時係数された場合には、その時の前記第一のカウンタの計数を除去することによってγ線の線量を測定することを特徴とする半導体放射線測定器。

IPC (2)：

G01T 1/24 ( 200 6.01) , G01T 3/08 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01T 1/24 , G01T 3/08

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (8)

信号検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-064792 Applicant：三菱電機株式会社
放射線測定器
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-061313 Applicant：株式会社堀場製作所
特開平3-185386

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Cited by examiner (8)

信号検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-064792 Applicant：三菱電機株式会社
放射線測定器
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-061313 Applicant：株式会社堀場製作所
特開平3-185386

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